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国立中兴大学奈米科技中心仪器说明会InstrumentmeetinginCNN.doc
國立中興大學奈米科技中心 儀器說明會
Instrument meeting in CNN, NCHU
日期:100年9月30日
時間
課程內容
演講者
地點
9:30-10:00
報到
10:00-10:10
開場
奈米中心主任 楊吉斯 教授
理學大樓1A01
10:10-12:00
場發射掃描式電子顯微鏡開放使用說明會
Q A
化學系 林寬鋸 教授
理學大樓1A01
12:00-13:30
午 餐 時 間
13:30-15:00
三次元奈米級拉曼磷光共軛雷射顯鏡說明會
Q A
物理系 施明智 副教授
理學大樓1A01
15:00-15:10
休 息
15:10-16:40
可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡JSPM-4500VT
Q A
物理系 蘇志川 先生
理學大樓1A01
場發射掃描式電子顯微鏡
場發射掃描式電子顯微鏡(FESEM)儀器廠牌為蔡司ZEISS Ultra Plus熱場場發射掃描式電子顯微鏡,其解析度可達1.0 nm(15 kV),1.7 nm(1.0 kV),3.5 nm(0.2 kV),4.0 nm(0.1 kV)可對材料表面形之顯微組織貌進行精細觀察及亦加裝了X光能量散譜儀(EDS),可對材料做進一步微區之元素定性與定量分析。
三次元奈米級拉曼磷光共軛雷射顯鏡
Nanofinder ? 30為一具高感光度與高解析度的三維拉曼顯微影像分析系統,具有可同時擷取三維影像與材料分析之功能。此光學系統建立於共軛焦顯微鏡的基礎上,因同時裝載有光譜分析儀與時間相干單光子偵測器,因此分別於光譜與時間參數上提供分析材料特性之能力。 Nanofinder具三維顯微拉曼散射或螢光影像偵測,拉曼光譜分析,螢光衰減週期(FLIM)分析等能力,可應用於如活體細胞偵測,半導體與半導體裝置材料與應力分析,磊晶薄膜結構與成分分析,以及石墨(硒)/奈米碳管結構分析等多重領域之研究。
可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡JSPM-4500VT
JSPM-4500VT 為日本JEOL公司所製造的超高真空可變溫式掃描探針顯微鏡,具有掃描穿隧顯微術與原子力顯微術、磁力顯微術的功能。其超高真空系統可提供 1x10-8 Pa的超高真空環境,並具備樣品交換腔體、樣品準備腔體與樣品檢測腔體。此JSPM-4500VT可變溫式超高真空掃描探針顯微鏡,所具有的超高真空樣品製備與量測環境、方便更換樣品與探針的設計、以及大範圍溫度調控的能力,使其可以廣泛應用於奈米科學與半導體相關研究領域之中。
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國立中興大學奈米科技中心 儀器說明會報名
報名日期:即日起 ~ 9月30日下午5:00截止
報名方式:網路報名19/
聯絡人:(04)2284-0502#17 鄧小姐
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