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扫描透视X射线显微镜的成像分辨率.pdf
第1l卷第4期 光学精密工程 v01.11N。.4
文章编号 1004—924X(2003)04一0159—05
扫描透视X射线显微镜的成像分辨率
陈 亮1
阳1’2,蒋诗平1,黄文浩2,陈
(1.中国科学技术大学国家同步辐射实验室,安徽合肥230029;
2.中国科学技术大学精密机械与精密仪器系,安徽合肥230029)
摘要:软X射线扫描透射显微镜(STXM)是近年来发展起来的一种新型显微技术,该技术能够获得比普通光学显微镜更
高的分辨率,而相对于电子显微镜又具有不用重金属染色、可观测含水样品等优点。讨论了合肥国家同步辐射实验室
统离焦的情况下系统调制传递函数、点扩散函数、边缘扩散函数的变化,并进行了数值模拟。通过数值计算,得到了分辨
率随离焦量的变化趋势曲线,结合光强分布曲线可得到离焦量最好应小于3pm的结论,此数据对sTXM的准直定位精
度的确定具有指导意义。
关键词:软x射线;扫描透射X射线显微镜;菲涅耳波带片;数值模拟;离焦量
中图分类号:TH74Z.63文献标识码:A
of transmission
Resolution soft
x-ray
scanning microscopy
CHEN Wen-ha02,CHEN
Yan91”,JIANGShi—pin91,HUANG Lian91
(1.N口£fo,l口Z R口di口£io,l 230029,C^i72口;
Sy,2c^ro£ro,l L口6D,‘口£ory,HP/0Z
2. PrPc{sioJns£r缸,,2P,2£n£iD,
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230029,(流i,z口)
己砌fuP,丐i£3,D,SffP,lcPn,zd:心c.Il竹oZDgyo厂C^i,z口,HP^i
re—
transmissionsoft anew in
Abstr北t:Scanning x-raymicroscopy(STXM)istechnologydeVeloped
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years. higher lightmicroscope. X—ray
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the“waterwindow’’(2.3~4.4 micron-1evel
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