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实验中在200欧姆挡位测量表笔导线电阻为0.2欧姆，而且多次测量均为这个值，所以认为这个电阻值需要在该挡位的测量值中扣除。受此启发接着测量其他挡位的短路电阻，①为了保证测量的精度，万用电表积分电路对两个表笔之间允许的电压是有限制的，不能过低也不能过高。
②所以在切换不同的欧姆档时，随着待测电阻的增大，为了保证两个表笔之间的电压在一个合理的范围内，不同欧姆档位的恒流源对外输出的电流不同。随着档位的升高，根据欧姆定律，恒流源的电流应该在减小。
③所以当使用200M欧姆档时，恒流源提供的电流将会很低，而此时将会使得恒流源的负反馈控制结构失效，无法实现极端小的电流的稳恒。为此，万用电表将会换为恒压源进行测量。
④同时为了实现该较大电流下，积分采样电路仍然能采集到一个能使用的电压信号，可以采用1M欧电阻分压的方式，通过测量1M欧电阻两端的电压信号，换算出待测电阻和1M欧电阻两端的电压，进而获得待测电阻和1M欧姆电阻串联的总阻值并予以显示。所以才会出现在最终测量值上减去1M欧姆的示数才是真实待测电阻的情况。
为了验证我的想法，我首先想要验证在200欧姆变化至2M欧姆档位时，恒流源的电流要逐级变小。下图是200K欧姆档位的电流表示数：5μA。
可以计算得知，取测量200K欧姆时，理论上两表笔之间的最大电压在1V特。而在20K欧姆档，恒流在50μA（相机没电……无法拍照……），最大电压依旧在1V，应该说，这充分证明了我的第①、②条推论。
关于第3、4条推论，本来想要用欧姆表直接测量另一个欧姆表的，但是考虑在此时两个恒流源并联，加之无法确定内部构造，所以没有贸然行动。希望在一次的实验中设计出合理可行的方案来验证。
三、空间电磁干扰源的来源？
空间电磁干扰（EMI）对精密测控电流的影响是十分明显的。所以我想要探究一下空间电磁干扰的来源。我在实验室尝试去探究电磁干扰，用示波器的探针做探头。发现了两个存在于实验室的干扰源，一个是日光灯，一个是排插。因为在探头靠近的时候，都能观察到明显的波形增大。对于日光灯，在探头水平接近的时候影响较小，垂直接近时影响较大。
下图为我采用的探测方式：将探头靠近排插，
如图所示，EMI在探头上感应出的信号：
下图为距离日光灯管约2米距离的感应信号：
下图为1.5米时的感应信号
下图为约1米时的感应信号
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