第七章X射线法重点.ppt

Philips SAXS仪 同步辐射SAXS仪 X射线在宇宙探索中的应用 X射线在 安检中的应用 X射线遇到物体时可能出现三种情况：穿过物体、被物体吸收、遇物体发生散射。在安检中就是利用X射线的康普顿散射理论，X射线遇到不同物质会发生不同的散射，遇到低原子序数物质时，散射较强；遇到高原子序数物质时，散射相对较弱。而且散射概率与密度有关，因此，被检测物质的原子序数越低，密度越大，散射就越强。能够凸显低原子序数的有机物，特别是液体炸药、塑性炸药、毒品等。 电子的衍射强度 电子散射的X射线在P点的强度可用下式表示：Ie=(e4I0/R2m2c4)(1+cos22θ)/2 其中，e和m分别为电子的电荷和质量，c为光速，Io为入射X射线强度。 原子序数为Z的某原子，假设其Z个电子都集中在一起，则 I’a=Z2Ie Bragg方程只确定衍射方向，衍射强度是由晶体一个晶胞中原子的种类、数目和排列方式决定的，整个晶体在各方向的衍射强度，实际上是一个晶胞衍射强度的若干倍。当然，仪器等实验条件对其数值也有影响。 P R 2θ O ? 入射线? I0 原子的散射因子 实际上所有电子不可能集中在一起，由于原子中不同电子各自散射的X射线在同一方向上的位相不同，将会相互干涉，从而使其强度有不同程度的减弱。 此时原子散射X射线的强度为 Ia=f2Ie。 f相当于原子散射X射线的有效电子数，称为原子的散射因子，其数值比Z小。相当于把f个电子集中在一点时所散射X射线的应有强度。原子的散射因子与原子的性质、散射方向和X射线波长有关。一般地，原子序数越大的原子，核外电子数越多，其散射X射线的能力越大，即在给定方向对波长一定的X射线的散射强度越大。 衍射强度与晶胞中原子的分布 对于一个由q个原子所组成的晶胞，由于各个原子的位相不同，所以晶胞在(hkl)衍射方向所产生的衍射强度I(hkl)并不等于其中q个原子所产生强度的简单加和。 I(hkl)≠∑Ief2j=Ie|F(hkl)|2 |F(hkl)|2=[∑fjcos2π(hxj+kyj+lzj)]2+ [∑fjsin2π(hxj+kyj+lzj)]2 F(hkl)称为结构因子，|F(hkl)|可理解为晶胞散射X射线的有效电子数，也可理解为晶胞的散射因子。 衍射强度与晶胞中原子的分布 I(hkl)=[(e4I0/R2m2c4)(1+cos22θ)/2].[∑fjcos2π(hxj+kyj+lzj)]2+ [∑fjsin2π(hxj+kyj+lzj)]2 上式是计算晶胞在各衍射方向衍射X射线的相对强度的重要公式。该公式把衍射的相对强度与晶胞中原子的位置联系起来，通过对衍射强度的测定，则可得到晶胞中原子分布的信息。 衍射强度与晶胞结构 对某一晶体，先假设一可能的结构，并推算出不同衍射指标(hkl)所代表的各衍射方向的I(hkl)值，即相对强度。将X射线测得的实验结果与推算结果进行比较，若一致说明假设的结构为晶体的真实结构；若不一致，再重新假设并推算和比较，直至一致为止。 物相分析 每种晶体都有它自己的晶面间距d，而且其中原子按照一定的方式排布着。这反映在衍射图上各种晶体的谱线有它自己特定的位置、数目和强度I。因此，只须将未知样品衍射图中各谱线测定的角度θ及强度I去和已知样品所得的谱线进行比较就可以达到物相分析的目的。 在缺乏对照样品的情况下，可以采用下列方法。由实验的θ值按下式求出各个线条的d/n值：d/n=λ/2sinθ 选出其中三条最强粉末线的d/n值及其强度I，去和所谓的ASTM (American Society for Testing Materials) 左上角的数值进行对比就可以确定未知样品的物相了。 平均晶粒度的测定 Scherrer方程： 注意：1.β为半峰宽度，即衍射强度为极大值一半处的宽度，单位以弧度表示；2. Dhkl只代表晶面法线方向的晶粒大小，与其他方向的晶粒大小无关；3. k为形状因子，对球状粒子k=1.075，立方晶体k=0.9，一般要求不高时就取k=1。 4.测定范围3~200nm。 D d 小角X射线散射研究的几种常见粒子体系 Sketch maps of the typical colloid particle systems in SAXS research respectively for monodisperse and polydisperse particle systems and their complementary systems 粒子及其互