XRd测宏观织构的工作原理及应用举例试题.ppt

XRD测宏观织构的工作原理及应用举例 主要内容 1 织构的表征方法 2 XRD测织构的工作原理 3 XRD测织构的方法 4 应用举例 1、织构的表征方法 样品坐标系：轧向ND、横向TD、法向ND 晶体坐标系：[100]、[010]、[001] 织构的定义：多晶体中晶粒取向的择优分布。 1、织构的表征方法 取向的表示方法 （1）Miller指数：{hkl}uvw={100}100 （2）Euler角:（φ1 , Φ, φ2)=(0°,45°,0°) （3）取向矩阵G： （4）轴角对：(l1, l2, l3)θ （5）四元素法：(Q0,Q1,Q2,Q3) 有织构时晶粒排列 2、XRD测织构的工作原理 晶体内一些晶粒优先沿着特定的方向排列的现象，称为择优取向 在粉末衍射法中，衍射强度I： 上式要求粉末样品中呈现完全的随机取向 若晶体中存在织构，必将引起衍射强度发生起伏变化，这些强度变化就反应了晶粒取向在空间的不均匀分布。 3、XRD测织构的方法 3、XRD测织构的方法 （1）极图。主要用来描述板织构。 极图是表示某一取向晶粒的某一选定晶面{hkl}在包含样品坐标系方向的极射赤面投影图上的位置的图形 立方取向的{100}、{110}、{111}极图 3、XRD测织构的方法 （2）反极图。一般描述丝织构。 反极图用于分析在晶体坐标系中某试样样品坐标轴的分布情况 例如：铜型织构{11-2}