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计算机标准化考试题答案 一、填空 标识X射线谱中，对一定线系的某条谱线而言，其波长与原子序数的平方近似成[反比 ]关系，这就是著名的[ 莫塞莱 ]定律。 X射线衍射方法有[劳厄法 ]、[转动晶体法（转晶法） ]、[粉晶法 ]和[衍射仪法 ]四种方法。 从粉末衍射线束强度的测量中，可以得到有关[晶体结构 ]，多相混合物中各物质的[相对含量 ]等多种信息。 衍射仪的工作方式有[连续扫描 ]和[步进扫描 ]两种。 11.电子显微分析是利用[聚焦电子束 ]与试样物质相互作用产生的[各种物理信号 ]，分析试样物质的[微区形貌 ]、[晶体结构 ]和[化学组成 ]。 14. 透射电子显微镜的结构分为[光学成像 ]系统、[真空 ]系统和[电气 ]系统。 17. 电子探针X射线显微分析（EPMA）是一种[显微 ]分析和[成分 ]分析相结合的微区分析，是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有力的分析方法。其中常用的X射线谱仪有[波谱仪 ]和[能谱仪 ]两种。 22. 红外光谱图一般都反应四个表象，分别为[谱带的数目]、[吸收带的位置]、[谱带的形状]、[谱带的强度]。 23. 红外吸收光谱图中的横坐标一般标有两种量纲，即[波长]和[波数]，纵坐标则常用[透过率]或[吸光度]表示。 24. 在一般红外光谱图中，所用的红外光波波长都在[中红外区]，更多地用[ 2.