积体电路－150KHz至1GHz电磁耐受力量测－第1部.doc

Intergrated circuits ? Measurement of electromagnetic Immunity ? 150 kHz to 1 GHz ? Part1: General conditions and definitions 編訂說明：本案建議案號為「建-制1020127」，草案編號為「草-制1020383」，係由本局第六組委外編擬，依程序辦理徵求意見，敬請 惠賜卓見。 目錄 節次 頁次 前言 3 1. 範圍與目的 4 2. 引用標準 4 3. 名詞(術語)與定義 5 4. 測試條件 9 4.1 通則 9 4.2 週遭環境的條件 10 4.3 測試產生器 11 4.4 頻率範圍 11 5. 測試設備 11 5.1 通則 11 5.2 屏蔽 11 5.3 其他的產生器和功率放大器 12 5.4 其他零件 12 6. 測試設置 12 6.1 通則 12 6.2 測試電路板 12 6.3 接腳選擇方案 13 6.4 IC接腳的負載/終接 13 6.5 電源之要求 15 6.6 IC的特定考量 15 6.7 IC在量測時間內的穩定性 17 7. 測試程序 17 7.1 監控系統查驗 17 7.2 人體的電磁波曝露 17 7.3 系統驗證 17 7.4 特定的程序 18 8. 測試報告 21 8.1 通則 21 8.2 電磁耐受性限制值位準 21 8.3 性能之類別 22 8.4 測量結果的說明 22 附錄A(參考) 24 附錄B(參考)測試板一般規格 27 Bibliography 34 前言 本標準係依標準法之規定 1 Scope and object 1. 範圍與目的 This part of IEC62132 provides general information and definitions on measurement of conducted and radiated electromagnetic immunity of integrated circuits (ICs) to conducted and radiated disturbances. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and Set up, as well as the test procedures and content of the test reports-A test method comparison table is included in Annex A to assist in .selecting the appropriate measurement method(s). IEC 62132第一部(CNS ???-1)提供量測積體電路(IC)對傳導和輻射電磁擾動電磁電磁耐受性的一般說明及定義，同時也描述量測條件、測試設備、測試設置、測試程序和測試報告的內容等；附錄A有一張各種測試方法的比較表，可以幫助來選擇適當的量測方法。 This standard describes general conditions required to obtain a quantitative measure of immunity of ICs in a uniform testing environment. Critical parameters that are expected to influence the test results are described. Deviations from this standard are noted explicitly in the individual test report. The measurement results can be used for comparison or other purposes. 本標準描述一般的條件以便在相同的測試環境中，獲得積體電路(IC)量化之電磁電磁耐受性，同時也描述預期會影響測試結果的主要參數，與本標準有偏差時，要明確地註記在個別的測試報告中，量測的結果可以用來做為比較之用或是做為其他用途。 Measurement of the injected voltages and currents, together with the responses of the ICs tested at controlled conditions, yields information about the potential immunity of the IC to conducted and r