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第5章节材料剖析方法
第一篇 材料X射线衍射分析
第一章 X射线物理学基础
第二章 X射线衍射方向
第三章 X射线衍射强度
第四章 多晶体分析方法
第五章 物相分析及点阵参数精确测定
第六章 宏观残余应力的测定
第七章 多晶体织构的测定
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第五章 物相分析及点阵参数精确测定
本章主要内容
第一节 定性分析
第二节 定量分析
第三节 点阵参数的精确测定
第四节 非晶态物质及其晶化过程
的X射线衍射分析
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一、基本原理
X射线衍射分析以晶体结构为基础，每种结晶物质都有其特定的结构参数，包括点阵类型、单胞中原子种类、数目和位置及单胞大小等
这些结构参数在X射线衍射花样中必有所反映
多晶体物质衍射线条的数目、位置以及强度，是该种物质的特征，因而可以成为鉴别物相的标志
世界上不存在衍射花样完全相同的两种物质，因此可利用衍射花样与标准物质衍射卡片对照进行物相鉴定
衍射线条的位置由2?决定，而?取决于波长?及晶面间距d,其中d是晶体结构决定的基本量。应用时，将待测花样和标准花样d及I系列对照，即可确定物相
第一节 定性分析
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二、粉末衍射卡片(PDF)
粉末衍射卡片是物相定性分析必不可少的资料，卡片出
版以经历了几个阶段，
1) 1941年起由美国材料试验协会ASTM出版
2) 1969年由起粉末衍射标准联合委员会JCPDF出版
3) 1978年起JCPDF与国际衍射资料中心联合出版，即JCPDF/ICDD
4) 1992 年后的卡片统一由ICDD出版，至 1997年已有卡片47组，包括有机、无机物相约67,000个
图5-1为1996年出版的第46组PDF(ICDD)卡片，卡片中各栏
的内容见图5-2的说明
第一节 定性分析
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一、粉末衍射卡片(PDF)
SmAlO3
Aluminum Samarium Oxide
d /?
Int
hkl
3.737
3.345
2.645
2.4948
2.2549
2.1593
1.8701
1.8149
1.6727
1.6320
1.5265
1.3900
1.3220
1.3025
1.2462
1.1822
1.1677
62
5
100
4
2
46
62
6
41
7
49
6
33
1
19
18
5
110
111
112
003
211
202
220
203
222
311
312
115
400
205
330
420
421
Rad. CuK?1 ?1.540598 Filter Ge Mono. D-sp Guinier Cut off 3.9
Int. Densitometer I / Icor . 3.44
Ref. Wang, P. Shanghai Inst. Of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai, china, ICDD Grant-in-Aid, (1994)
Sys. Tetragonal S.G.
a 5.2876(2) b c 7.4858(7) A C 1.4157
? ? ? Z4 mp
Ref. Ibid. Dx 7.153 Dm SS/FOM F19 = 39 (.007,71
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