SPC管理规范.docVIP

编 制 审 核 批 准 文件修改履历 项次 修改内容 修改日期 修改人 审批人 备注 1.目的/范围: 为保证本公司生产产品品质，准确实施统计品管（ＳＰＣ）管理品质，特订本规范， 本规范适用于生产制造过程中统计方法的应用。 2.内容： 2.1管制图分类（选用原则） 2.1.1计量值管制图： 此类数据皆属于计测器（可读取数值）实际量测而得﹐如长度﹐重量﹐成份等特性均为连续性者﹐最常用管制图有：平均值与全距管制图（Ｘ－Ｒ）﹐平均值与标准差管制图（Ｘ－σ）﹐中位值与全距管制图（Ｘ－Ｒ）﹐个别值与全距管制图（Ｘ－Ｒｍ） 2.1.2计数值管制图： 此类数据均属于以单位计数者如不良数﹐缺点数等间断数据﹐常用者有不良率管制图（Ｐ－ＣＨＡＲＴ）﹐不良数管制图（Ｐｎ－ＣＨＡＲＴ）﹐缺点数管制图（Ｃ－ＣＨＡＲＴ）﹐平均缺点数管制图（Ｕ－ＣＨＡＲＴ）。 2.2作业要领说明： 2.2.1Ｘ－Ｒ管制图 2.2.1.1搜集数据－搜集100个以上的数据，依测定时间顺序，或群体顺序排列。 2.2.1.2这些数据是最近的数据，并且在技术上可认为今后的制程不会有多大 变化。 2.2.1.3数据的履历必须很清楚。 2.2.1.4数据分组—2～6个数据为一组，把全部数据共分为20～30组。 2.2.1.5一组内的数据个数，谓之样本数，以ｎ表示。 2.2.1.6组之个数，谓之组数，以Ｋ表示。 2.2.1.7同一组内不要含有异质的数据。通常是以群体顺序，或测定时间顺序 来分组。 2.2.1.8记入数据表－把数据记入如图表一的数据表里。 2.2.1.9计算平均值Ｘ（四舍五入后，比测定值多求一位数），求各组的平均值Ｘ。 　　　 Ｘ１＋Ｘ２＋Ｘ３＋……＋Ｘ 　　　　　　　ｎ 例如图表一的第一组的平均值为： 　 48＋49＋48＋50＋51 　　　　　　 5 2.2.1.10计算全距Ｒ 求每组的全距Ｒ Ｒ＝Ｘ（最大值）－Ｘ（最小值） 如图表一的第一组全距： Ｒ＝51－48＝3 2.2.1.11计算总平均Ｘ（四舍五入后比测定值多求２位数）。 　　　　Ｘ１＋Ｘ２＋……＋Ｘｋ 　　　　　　　　 Ｋ 例如图表一： 49 ＋50 ＋50 ＋48 ＋ … ＋50 ＋49 ＋ 50 　　　　　　　　　　 25 ＝49.68 ΣＸ＝1242　　　　　　 　Ｘ＝49.68 　　　　　ΣＲ＝117　　　　　　　　 Ｒ＝4.7 2.2.1.12计算全距的平均值Ｒ Ｒ１＋Ｒ２＋……＋Ｒｋ 　　　　　　　　　 Ｋ 例如图表一： 　 3＋4＋7＋6＋……＋8＋6＋3＋4 　　　　　　　　　 25 2.2.1.13计算管制界限 Ｘ管制图： 中心线　　　ＣＬ＝Ｘ 上管制界限　ＵＣＬ＝Ｘ＋Ａ２Ｒ 下管制界限　ＬＣＬ＝Ｘ－Ａ２Ｒ （Ａ２为系数，可由查表得） 例如图表一： 因ｎ＝５，故查表得Ａ２＝0.577 ＣＬ＝Ｘ＝49.71 ＵＣＬ＝Ｘ＋Ａ２Ｒ＝52.42 ＬＣＬ＝Ｘ－Ａ２Ｒ＝47.00 2.1.1.14Ｒ管制图 中心线　　　ＣＬ＝Ｒ 上管制界限　ＵＣＬ＝Ｄ４Ｒ 下管制界限　ＬＣＬ＝Ｄ３Ｒ （Ｄ４，Ｄ３为系数，可由查表得） 例如图表一： 因ｎ＝５，故查表得Ｄ４＝2.12，Ｄ３＝０ ＣＬ＝Ｒ＝4.7 ＵＣＬ＝Ｄ４Ｒ＝9.96 ＬＣＬ＝Ｄ３Ｒ（因ｎ＜６，故不考虑） 2.2.1.15记入管制界限 准备管制图用纸，绘上恩分度使上下管制界限之监能在20～30㎜左右。 Ｘ管制图时　　　　　　　　　　　 Ｒ管制图时 中心线记入实线　　　　　　　　　中心线Ｒ记入实线 ＵＣＬX，ＬＣＬX各别记入虚线　　　ＵＣＬR，ＬＣＬR各别记入虚线初期 之管制上下限制订，可从初期制程能力解析引用。 2.2.1.16调查是否在管制状态 把点全部记入管制图上，如果点都在管制界限内时，即认为制程是在管制状态下，如果有超出管制界限外的点时，就判断制程非管制状态，必须进一步做制程解析，追查原因，制定标准，采取去除原因的措施使制程完全进入管制状态，点在管制界限上时，亦视同超出界外的点。 预备数据调查结果，如果制程在管制状态时，就不必重新算，而把图表一所求 得的管制界限，直与规格比较。 2.3Ｐ管制图 2.3.1搜集数据 先预测制程不良率，然后抽取平均约含有1～5个不良品大小