上海光源光束线和实验站配置一览表.doc

SSRF首批光束线和实验站配置一览表 软X射线谱学显微光束线/实验站(BL08U1 A) 光源类型和参数椭圆极化波荡器 EPU100，周期长度100mm，4.2米。样品处同步辐射光特性能量范围250 - 2000 eV能量分辨3000@410eV, 1500@1840eV样品处光通量≥108 (phs/s)@ 410 eV ≥107 (phs/s)@ 1840 eV样品处光斑尺寸≤150nm实验站实验站设备主体STXM显微镜一台 快速正比计数管、光电二极管 湿样品槽二个（供湿样品用） 工作站一台 分析软件：NEXAFS分析软件、元素成分分析软件、三维图像分析。 光学显微镜实验方法透射软X射线近边吸收谱分析（NEXAFS谱）、 光谱显微分析—空间、能量三维（x,y,E）扫描 形态三维显微成像—空间三维（x,y,?）扫描。 X射线成像及生物医学应用光束线/实验站(BL13W1) 光源类型和参数多极Wiggler ， 1.944T/16poles/14cm。样品处同步辐射光特性能量范围10-60keV能量分辨≤5×10-3样品处光通量1×109 phs/s/mm2@20keV样品处光斑尺寸45mm(H)×5mm(V) @30m@20keV实验站实验站设备精密隔振平台、高分辨X射线CCD、多维样品台、精密导轨、电离室、快门、斩波器等。实验方法同轴相衬成像（IL-PCI） 显微CT（MCT） 衍射增强（DEI）等 XAFS 光束线/实验站(BL14W1) 光源类型和参数多极 Wiggler 38 极 1.2 T，周期长度80mm。样品处同步辐射光特性能量范围4 ～22.5 keV能量分辨2×10-4 Si(111)晶体@10keV样品处光通量≥2×1012 phs/s (100mA)@10keV样品处光斑尺寸≤0.5×0.5 mm2 (H×V)实验站实验站设备32元Ge固体探测器、Oxford 闭气路谱学电离室、Lytle荧光电离室、高低温原位设备(10K~1000K)、5维样品平台。实验方法透射XAFS、荧光XAFS、掠入射XAFS、 时间分辨QXAFS、原位XAFS。 X射线衍射光束线/实验站(BL14B1) 光源类型和参数弯铁，电子能量3.5GeV，束流300mA，磁场强度1.27T，临界能量10.35keV，水平自然发射度3.9nmrad。样品处同步辐射光特性能量范围4-22keV能量分辨2×10-4@10keV样品处光通量2×1011phs/s样品处光斑尺寸(H)0.4mm×(V)0.4mm实验站实验站设备Huber5021型6圆衍射仪及相关附件、 NaI闪烁体探测器、电离室、固体荧光探测器。实验方法粉末衍射(XRD) 掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD) 反射率测量(XRR) 倒易空间二维强度分布测量(RSMs) 衍射异常精细结构(DAFS) 硬X射线微聚焦光束线/实验站(BL15U1) 光源类型和参数真空室内波荡器，周期数80，长度2m。样品处同步辐射光特性能量范围5-20 keV能量分辨?E/E~2×10-4样品处光通量~6×1010phs/s @ 10keV，200mA样品处光斑尺寸≤3?m实验站实验站设备探测器：7元Si(Li)探测器，硅漂移探测器，成像用X射线CCD，电离室。样品台：7轴高精度电动扫描台，2维压电陶瓷扫描台。其他：样品对光显微镜，调光X-CCD。实验方法微束X射线荧光分析(?-XRF)：探测样品中微区元素含量和分布,2维，3维。 微束近边X射线吸收精细结构( ?-XANES)：特定元素的在样品中的化学种态。 微束X射线衍射、散射 (需要借用X射线面探测器)表面分析实验方法、X射线成像。 小角散射光束线/实验站 (BL16B1) 光源类型和参数弯铁光源，电子能量3.5GeV； 自然水平发射度3.9nm.rad；流强300mA； 磁场强度1.27T。样品处同步辐射光特性能量范围5-20keV能量分辨≤6.0×10-4@10keV样品处光通量≥3×1011phs/s@200mA样品处光斑尺寸0.4×0.5mm @10keV实验站实验站设备一维广角气体探测器、一维小角气体探测器、成像板探测器、单色光狭缝、电离室系统、掠入射小角散射样品台、真空管道及支架系统等。实验方法小角散射 同时广角和小角散射 掠入射小角散射 反常小角散射 生物大分子晶体学光束线/实验站 (BL17U1) 光