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清华大学.材料显微结构分析.05—织构分布函数微晶尺寸XRD测定
材料显微结构分析方法;四. 织构的取向分布函数 ;对于正极图： ;∵ 任一(hkl)与(00l)存在唯一的夹角关系 ;dA;dA;Whkl(?=0)与W00l(? ≠0) 关系的确定：;Whkl(?=0)与W00l(? ≠0) 关系的确定：;2. 分布函数的实验及测量 ;(正极图)的归一化标准 :; 并且极化前后： ;五. 摇摆曲线(Rocking Curve) ;衍射强度随衍射角变化的曲线即为摇摆曲线。 ;衍射强度随衍射角变化的曲线即为摇摆曲线。 ;III. 实际(非理想)晶体的摇摆曲线 ;??;??;VI. 具有择优取向BNKT陶瓷的摇摆曲线实例 ;III. 微晶尺寸的XRD测定 ;即：? ? ?+? 也存在一定衍射强度 ;hkl?;2?;2?;*偏离量值;设各晶胞原点相对整个晶体座标原点的向径： ;已知： ;实际上，X=N1a Y=N2b Z=N3c ;积分近似结果： ;因为sz 是一个很小的量，;已知： ;因为?是一个很小的量， ;在? = ?1/2 (半高宽)处： ;此时满足： ;衍射峰半高宽： ;二. 微晶尺寸的XRD测定 ;(1) ?hkl测定方法一： ;(2) ?hkl 测定方法二： ;2. 晶粒度Dhkl 的测定： ;三. 衍射峰展宽起因的判定： ;2. 晶格畸变效应： ;作业：
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