元器件可靠性老化实验总结元器件可靠性老化实验总结.pdf

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元器件可靠性老化实验总结元器件可靠性老化实验总结

可靠性老化评估测试 一、从生产线上抽取合格的产品作为测试样品 样品规格:2N60,3N60,4N60,4N65,7N60,8N60 抽样标准:GB2828 样品数量:各 200Pcs 测试时间:2011.7.20—9.19 二、可靠性老化测试 1,测试项目:高、低温存储试验 测试名称 低温存储试验 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观,性能参数是否正常 测试条件 低温-55℃保持 72 小时 测试结果 合格 测试名称 高温存储试验 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观,性能参数是否正常 测试条件 高温 150℃保持 72 小时 测试结果 合格 2,测试项目:高、低温循环试验 测试名称 高低温循环试验 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观,性能参数是否正常 测试条件 高温 150℃,低温-40℃,循环测试 10 次,共 60 小时 测试结果 合格 3,测试项目:高低温冲击试验 测试名称 高低温冲击 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观,性能参数是否正常 测试条件 高温 160℃,低温-50℃,循环测试 15 次,共 24 小时 测试结果 合格 4,测试项目:恒温恒湿试验 测试名称 恒温恒湿 第 - 1 -页 共 页 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观,性能参数是否正常 测试条件 温度 85℃,湿度 85%,共 72 小时 测???结果 合格 5,测试项目:高温高压蒸煮试验 测试名称 高温高压蒸煮 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观,性能参数是否正常 测试条件 温度 120℃,压力 0.2Mpa,共 96 小时 测试结果 合格 三、配合整机试验 1、2N60 1)、冲击短路试验 样品规格:2N60 抽样标准:GB2828 样品数量:50Pcs 测试项目 冲击试验 测试设备

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