基于光强调制的接触式光纤位移传感器设计.doc

PAGE  PAGE 4 基于光强调制的接触式光纤位移传感器设计 孙乃迪 刘原野 张晔 宋宁宁 航天学院 指导教师：刘丽华 教授 一、课题研究目的 光纤传感器目前已被广泛用于各种物理量和几何量的测量与控制中，位移检测是几何量检测的基础，目前常用的非接触式测量位移的方法，受环境和被测物体表面状况的影响，其精度提高受到制约。本项目就是研究一种光纤传感器接触式测量位移的方法，设计相应的测试仪器，以其拓展光纤传感器测量位移手段的多样化。 二、课题背景 强度调制光纤传感器是最早发展起来的一种光纤传感器，其特点是简单、可靠、经济，发展较为成熟，目前所应用的强度调制光纤位移传感器均为非接触式，因其构造简单，不受电磁干扰等特点而被广泛应用，但被测物体表面状况变化、环境光干扰是此方法不可避免的影响精度的因素，传统的非接触式测量只能在数据的处理上减小这些影响。本项目中接触式测量方法的采用即欲从原始测量中尽可能的减弱以上因素的影响。 三、课题研究主要内容 主要研究包括：半导体激光器（LD）和光电接收器（PD）的选择及其驱动电路的设计；光纤传感测头中光纤头和测头的固定以及调整部分设计；数据采集及处理、结果显示；对测量系统进行稳定性、重复性、精度比对的测试。 1．测量原理 z 反射体 发射光纤 接收光纤 图1 反射式光强调制原理示意图 图1为本项目采用的反射式光强调制的原理示意图。发射光纤端面射出的光成圆锥型，此光束经反射体反射后，部分或全部进入接收光纤，当改变发射光纤端面相对于反射体的间距z时，接收光纤接收到的反射光总量将发生变化，即对所传输的光进行了调制。被调制的光信号由PD转变为电信号，送入计算机进行数据处理，即可获得被测的位移值。 2．总体方案 LD驱动电路 LD 数据处理 显示 x 测头 电路部分 光纤传感测头部分 工作台 传输光纤 图2 接触式光纤位移传感器组成框图 被 测 件 数据处理部分 PD驱动电路 PD A/D 设计的系统由电路部分、光纤传感测头部分和数据处理部分组成，如图2所示。 3．电路部分设计 （1）LD与PD选择 经调研，最终确定LD选用中心波长为850nm的近红外半导体激光器，PD选用S09003型PIN-FET混合集成光电接收器，它在850nm波长的光谱响应度最大，为1V/μW。 （2）电路设计 电路原理如图3所示，包括变压器模块，整流滤波模块，慢启动模块，稳压模块，其中慢启动模块采用了RC串联电路实现，最终达到I=1~50（mA），t=1~5（s）的慢启动效果，对于选择的LD， 25mA的注入电流和1.5s的响应时间是十分理想的。 图3 电路原理图 AC 220V FUSE BD1 BD2 TR C1 C2 C3 C4 R D IC1 ST850 C5 C6 C7 C8 IC2 IC3 A/D CPU P 7812 S09003 4．光纤传感测头部分设计 图4为光纤传感测头的结构示意图，套筒可以防止环境光的干扰，为满足测头可伸缩的要求，采用了中径D=Φ28，弹簧丝直径d=Φ2，工作行程h=25的弹簧；设计的测头结构可灵敏的反应出被测件经测头所传递的位移信息；为方便调整，采用可拆卸结构。 发射光纤 接收光纤 反射镜 支架 套筒 测头 图4 光纤传感测头的结构示意图 5．数据处理部分设计 采用VB语言编制软件，其具备以下功能：①数据采集：采用型号为HK-PCI812的数据采集卡；②标定：使用型号为TEMP No.0089-06A的步进电机，由软件控制步进电机带动工作台（被测件）运动，得到被测件位移与电压的关系；③测量：包括位移测量和表面粗糙度测量，在标定的基础上，用测得电压与已知的标定关系进行线性插值计算，获得被测件的实际位移值与表面粗糙度值；④其他功能：包括数据存储、历史数据查询等。 四、结论 1．项目成果 图5、图6是测试系统实物照片。 图6 测量工作台 图5 测量系统 2．测试结果 （1）稳定性测试 开启激光器半小时，待采集电压稳定后，再开始测量相应数据，记录10分钟的电压数据，计算得到电压标准差为3.0mV。 （2）标定 用千分表对本系统进行标定，经标定得到实际的测量范围在0～4mm左右。 （3）重复性测试 图7 精度比对测试曲线 选取测量范围内2.400mm，2.600mm，2.800mm位置上的3点，每点测量10次，得到的重复性标准差分别为2.98μm，6.49μm，8.82μm。 （4）精度比对测试 用千分表做基准，做精度比对测试，图7为精度比对测试曲线。 （5）表面粗糙度测试 对采用四种不同方法加工的被测件表面进行测量，得到四个表面的表面粗糙度Ra分别为 43.8μm、14.7μm、24.3μm、32.8μm。 3．结论 所设计的光纤传感测头结构，既消除了环境光的干扰，又消除了被测件表面状况