数字电路与逻辑设计实验讲义.doc

PAGE  PAGE 45 《数字电路与逻辑设计》实验讲义 实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2、掌握TTL器件的使用规则。 3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构、功能与使用方法。 二、实验原理 用万用表鉴别门电路质量的方法：利用门的逻辑功能判断，根据有关资料掌握电路组件管脚排列，尤其是电源的两个脚。按资料规定的电源电压值接好（5V±10%）。在对TTL与非门判断时，输入端全悬空，即全“1”，则输出端用万用表测应为0.4V以下，即逻辑“0”。若将其中一输入端接地，输出端应在3.6V左右（逻辑“1”），此门为合格门。 按国家标准的数据手册所示电参数进行测试：现以手册中74LS20与非门电参数规范为例，说明参数规范值和测试条件，见表1.1。74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列如图1.1。 表1.1 74LS20主要电参数规范 参数名称及符号规范值单位测试条件74LS20直 流 参 数高电平输出电压VOH≥3.40VVCC=5V，输入端VIL=0.8V，输出端IOH=400μA低电平输出电压VOL＜0.30VVCC=5V，输入端VIH=2.0V，输出端IOL=12.8mA最大输入电压时输入电流II≤1mAVCC=5V，输入端VIn=5V，输出端空载高电平输入电流IIH＜50μAVCC=5V，输入端VIn=2.4V，输出端空载低电平输入电流IIL≤1.4mAVCC=5V，输入端接地，输出端空载高电平输出时电源电流ICCH＜14mAVCC=5V，输入端接地，输出端空载低电平输出时电源电流ICCL＜7mAVCC=5V，输入端悬空，输出端空载扇出系数NO4～8V同VOH和VOL (b) （a） (c) 图1.1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列 与非门的逻辑功能 当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平。 2、TTL??非门的主要参数 （1）空载导通电源电流ICCL（或对应的空载导通功耗PON） 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。ICCL是指输入端全部悬空（相当于输入全1），与非门处于导通状态，输出端空载时，电源提供的电流。将空载导通电源电流ICCL乘以电源电压就得到空载导通功耗PON ，即 PON = ICCL×VCC 。 测试方法，如图1.2（a）所示。 测试条件：输入端悬空，输出空载，VCC=5V。 通常对典型与非门要求PON ＜50mW，其典型值为三十几毫瓦。 空载截止电源电流ICCH（或对应的空载截止功耗POFF） ICCH是指输入端接低电平，输出端开路时电源提供的电流。空载截止功耗POFF为空载截止电源电流ICCH与电源电压之积，即 POFF = ICCH×VCC 。注意该片的另外一个门的输入也要接地。 测试方法，如图1.2（b）所示。 测试条件： VCC=5V，Vin=0，空载。 对典型与非门要求POFF ＜25mW。 通常人们希望器件的功耗越小越好，速度越快越好，但往往速度高的门电路功耗也较大。 (2)低电平输入电流IiL和高电平输入电流IiH IiL是指输入端接地输出端空载时，由被测输入端流出的电流值，又称低电平输入短路电流，它是与非门的一个重要参数，因为入端电流就是前级门电路的负载电流，其大小直接影响前级电路带动的负载个数，因此，希望IiL小些。 测试方法，如图1.3（a）所示。 测试条件： VCC=5V，被测某个输入端通过电流表接地，其余各输入端悬空，输出空载。 通常典型与非门的IiL为1.4mA。 IiH是指被测输入端接高电平，其余输入接地，输出端空载时流入输入端的电流，一般较小免于测试。 （3）扇出系数N0 扇出系数N0是指输出端最多能带同类门的个数，它反映了与非门的最大负载能力。TTL与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇出系数，即低电平扇出系数NOL和高电平扇出系数NOH。通常IIH＜IIL，则NOH＞NOL，故常以NOL作为门的扇出系数。扇出系数可用输出为低电平（0.4V）时的允许灌入的最大灌入负载电流IOmax与输入短路电流IIL之比求得，即 N0=IOmax/IIL。一般N＞8，被认为合格。 注意：测量时，IOmax最大不要超过20mA，以防止损坏器件。 测试方法，如图1.4所示。 （4）电压传输特性 电压传输特