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综合电子实验设计报告频率计
综合电子系统设计报告
实验名称:基于STM32的频率计设计
班级: 电子1202
学号: 03号
姓名: __
指导老师:
2015年4月13日
一、系统设计
1、方案论证
(一)、控制部分的选择:
方案一:C51单片机
本身的资源就太少,做个频率计就需要用到一个定时器,一个中断或者两个定时器,可不方便。
方案二:STM32
仅仅需要一个资源就行了,stm32里有一个输入捕获功能。我们可以利用TIM5的通道1(PA0)来做输入捕获,捕获PA0上两个上升沿所经历的时间,就可以计算得出频率了。
(二)、波形处理方法
方案一:PWM捕获,PWM捕获上升沿,在设定时间内(利用定时器设定)捕获的PWM上升沿即可算出频率,此方案低频时精度高,但是对于高频会使计数溢出。
方案二:ETR捕获:捕获脉冲计数器,在设定时间内捕获信号脉冲个数,高频时可以利用信号分频之后再捕获,此方案对于高频低频都有效,实用性好,精度好。
2、总体方案设计:
波形产生部分(整流)
控制部分STM32
数码管显示部分
二、硬件电路的设计
第一部分 方波形产生
被测电路经过限幅电路后输入到放大电路中,考虑到最高频率达到10KHZ,同时若输入幅度较小需要进行放大,故用两级放大器进行放大。如图所示:
第二部分 信号波形整形电路
利用施密特触发器将边缘缓慢变化的周期性模拟信号变换成同频率的矩形脉冲。
第三部分 数码管显示电路
第四部分 控制部分STM32最小系统
主程序流程图 频率、周期计数子程序流程图
四、理论计算
1、设在一次预置门时间Tpr内对被测信号的计数为Nx,对标准的计数值为Nx,则下式成立:
fx / Nx = fs / Ns (式1.1)
由此可推得
fx = fs Nx / Ns (式1.2)
相对误差公式
δ = ± ( 2 / Ns + ?fs / fs ) (式1.3)
从误差分析中可以看出来, 它的测量精度与Ns和标准频率精确度有关, 而与被测频率无关. 显然, Ns决定于预置门时间和标准频率信号的频率, 其关系如下:
Ns = Tpr fs (式1.4)
如果采用频率为50MHz的晶体震荡器, 则有:
|δ| ≤ 1 / Ns (式1.5)
用此方法可以用单片机程序方便地完成宽位浮点数的数学运算, 实现高精度测量.
2、等精度周期测量法
该方法在测量电路和测量精度上与等精度频率测量完全相同, 只是在进行计算时所用的公式不同, 用周期1/T代换频率f就可以了, 它的计算公式是:
Tx = TsNs / Nx (式1.6)
从降低电路的复杂度以及提高精度(特别是高频)上考虑, 本设计将要采用此方法测量被测信号的周期.
3、量化误差
若所测频率值为fx, 被测频率的真实值为fxe, 标准频率为fs, 在一次测量中, 预置门时间为Tpr, 被测信号计数值为Nx, 标准频率信号计数值为Ns. 由于fx计数的起停时间都是由该信号的上升沿触发的, 因此在Tpr时间内对fx的计数Nx无误差, 在此时间内的计数Ns最多相差一个脉冲, 即?et ≤ 1, 则下式成立:
fx / Nx = fs / Ns (式1.7) fxe / Nx = fs / ( Ns + ?et ) (式1.8)
可以分别推得
fx = fs Nx / Ns (式1.9) fxe = fs Nx / ( Ns + ?et ) (式1.10)
根据相对误差公式有
|δ| = ?fxe / fxe = ( fxe - fx ) / fxe (式1.11)
经过整理可以得到
?fxe / fxe = ?et / Ns (式1.12)
因为?et ≤ 1, 故?et / Ns ≤ 1 / Ns, 即
?et / Ns ≤ 1 / Ns
Ns = Tpr fs (式1.13)
根据以上分析, 可以知道等精度测频法具有三个特点:
① 相对测量误差与被测频率的高低无关;
② 增大Tpr或fs可以增大Ns, 减少测量误差, 提高测量精度;
③ 测量精度与预置门宽度和标准频率有关, 与被测信号的频率无关, 在预置门和常规测频闸门时间相同而被测信号频率不同的情况下, 等精度测量法的测量精度不变.
4、标准频率误差
标准频率误差为?fs / fs, 因为晶体的稳定度很高, 标准频率误差可以进行校准, 相对于量化误差, 校准后的标准频率误差可以忽略。
五、实验结果
被测信号的测量误差:1Hz—1000Hz,误差为1Hz
1000Hz—2000Hz,误差为1Hz-2Hz
误差主要来源为:1、基准时间的误差;2、
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