HRTEM高分辨标定-1.pdf

1.HRTEM 和 TEM 有什么区别呢？样品什么情况下适合做 TEM？什 么情况下需要做 HRTEM? 另外，做 HRTEM 制样的时候，样品的量 用多少合适？ HRTEM(High Resolution Transmission Electron Microscopy )就是高分 辨率的透射电镜，它只是分辨率比较高，所以一般透射电镜能做的工 作它也能做，但高分辨电镜物镜极靴间距比较小，所以双倾台的转角 相对于分析型的电镜要小一些。用 HRTEM 研究纳米颗粒可以通过结 合高分辨像和能谱分析结果来得到颗粒的结构和成分信息。 TEM 透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscopy，缩写 TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的 样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。 散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影 像。通常，透射电子显微镜的分辨率为 0.1～0.2nm，放大倍数为几万～ 百万倍，用于观察超微结构，即小于 0.2μm、光学显微镜下无法看清 的结构，又称“亚显微结构”。 2.这三张图分别是尖晶石相的样品拍出的高分辨图片以及其对应的 FFT，还有一张衍射条纹图，我用 DM 软件手动量了多个相邻原子的 距离，发现差别很大，最小量的是 0.297nm，最大可以到 0.387，这 样的话，晶面如何归属啊？另外就是这种手动测量误差很大吧，我已 经很细心去丈量，结果貌似相邻距离并不是很相近，所以想问下各位 大侠这种情况应该如何处理？还有就是关于这个衍射条纹的图，从图 中能读出什么信息呢？ 通过 HRTEM 的高分辨衬度条纹，可以量出相应的晶面间距为 0.5nm， 可以对材料的 PDF 卡片看下这个间距对应的是哪个晶面的晶面间距， 这样就可以把条纹所代表的晶面确定下来。最下面的 SAED 点比较杂 乱，可能是所选区处含有多种晶向的晶体，因此可能会得到几种方向 斑点重合的的 SAED。你所测得的 0.297nm 或 0.387nm 都是对的，但 是对应于不同的晶面衍射，究竟是对应哪个还是需要对比 PDF 卡片 数据进行指认。 你这里的 HRTEM 与 SAED 并没有很明显的对应关系，可能原因是打 HRTEM 是区域较小，但打 SAED 时选区包含的晶粒较多，又出现不 同取向造成的。或者他们根本就不是在一个地方打的。FFT 结合 HRTEM 可以进一步确定晶体的晶面及取向信息。 这两幅图的确不是在同一个地方打的，你量出的 0.5nm 是在哪量出的 啊？我量了好几次，平均都在 0.3nm 左右，但是和我的 PDF 卡片核 对，我量出的值总是夹在两个晶面之间，和 xrd 上给的总差那么一点 点，请问这样的话，应该怎么处理啊？取近似吗？这种相邻之间的劲 歌条纹不是相等的吗？还请高手赐教…… 从 HRTEM 量得的明显的条纹间距就是 0.5nm。你也可以用电子尺通 过标尺来量取间距。一次可以量 10 个，然后再平均。正常情况同样 晶面得到的晶格条纹间距是应该相等的，如果你量取的值出现与标准 值有差别的情况，如果差得不多是正常的，还要再结合 SAED 指认晶 面。或者看 FFT 的点分布能与什么样的拍摄几何构型对得上。总之 当一