第08章晶體点阵结构与X射线衍射-3定稿.pptVIP

8.5.1 单晶衍射法简介; 所用 X 射线随摄像方法不同而不同. 回转法和四圆衍射法(面探法)用特征X射线. 而Laue法等则用白色X射线（增加一个变量, 因Laue方程中?, ?, ?并非完全独立, 存在F(?,?,?) = 0. 例如在直角坐标系中. cos2? + cos2? + cos2? = 1. 增加变量的方式为晶体旋转或改变波长λ）. ;采用单晶体, 特征x射线. 回转法的摄取情况如下图所示.; 设使晶体绕 c 轴转动, x射线从垂直于 c 轴的方向入射, 则衍射方向应满足劳埃方程 c(cos?l －cos?0) ＝l? 因 ?0＝90o, 故上式简化为 c cos?l ＝l?;; 分别求得晶胞参数a,b,c后, 便可计算晶胞的体积, 普遍的计算公式为; 目前使用最为广泛的方法是CCD面探法. 测定物质结构最为有效的方法是生长出单晶, 测定其结构. CCD面探法在数小时内可测出晶体结构（四圆衍射法可能需要数天完成, 而更早时期的照相法可能需要数年才能完成的工作）. 应特别指出的是X射线衍射不能定出化合物中H原子的位置. 因 H的核外只有一个电子, 对X射线的衍射非常微弱. H原子的位置要用中子, 电子等衍射来确定. ; (1) 粉末法结构分析;依据的基本方程为Bragg方程 ;用摄谱仪时, 记录 l ? 2? 的变化; 当用照相法时;实验中多选用正向区数据； 若相机直径 2R=57.3mm 则 ?度=L; 给出每条衍射线对应的衍射指标hkl, 即对每条衍射线给出相应的hkl, 称为指标化. 实际是求? ? hkl的对应关系, 是一件比较困难的工作. 但对高对称性的晶系, 已有简单的方法. ;(8-12)式可改写为; 当(h2+k2+l2)之比为 ; 当(h2+k2+l2)之比为 ;表8-5 立方点阵的衍射指标及其平方和;因此, 首先求得各对弧线间的距离, 进而求得下列有关量:; -----NaCl 粉末图的数据处理 ;阳极Cu靶 波长?=154.2pm 粉末像机2R=57.3mm 高压35KV 管流20mA 曝光2小时 ;对实验得到的照片按下列步骤进行处理:; 确定晶胞参数 由(8-12)式, 可计算得各对弧线对应的a值, 例如, 第九对弧线对应的 a 值为; 确定晶胞的“分子”数 已知NaCl晶体的密度?=2.165g?cm-3, 化学式量 M=58.5 g?mol-1, 则晶胞中NaCl的“分子”数为:;这种假设是否正确, 则要看由此出发计算得到的衍射强度与实验粉末线的强度是否一致. 把这些分数坐标代入结构因子公式(8-9)式得; 这一计算如果与表8-6中的实验结果完全一致, 说明所假定的试探结果是正确的. 于是NaCl的晶体结构确定了. 如果计算结果与实验相对强度不一致, 则应重新假定各原子的分数坐标进行重新计算, 直至与实验结果一致为止. ; (2) 粉末法物相分析简介 ; 自然界中的大部分物质以晶体而存在. 每一种结晶物质都有它的特定结构（原子的种类, 数目及其在空间的排列结合方式).决定了每一种结晶物质均有特定的衍射特征。;不同的晶体有一系列不同的特定d值及相应的强度. 即; (3) 晶粒大小的测定 ; 当晶粒度﹥10-3 cm时，衍射线是由许多分立的小斑点所组成；晶粒度﹤10-3 cm时，由于单位体积内参与衍射的晶粒数增多，衍射线变得明锐连续；晶粒度﹤10-5 cm时，由于晶粒中晶面族所包含的晶面数减少，因而对理想晶体的偏离增大, 使衍射线条变宽, 此时, 晶粒越小, 宽化越多, 直至小到几个nm时, 衍射线过宽而消失到背景之中. ; D-晶粒直径; ?-衍射角; ?-波长; K-Scherrer常数, 一般取0.9; B0-为晶粒较大时无宽化时的衍射线的半宽高, B-待测样品衍射线的半宽高; B-B0=?B要用弧度表示. ; Scheerrer公式的应用实例;由Scherrer公式 ;110衍射: ΔB = 1.0o- 0.6o= 0.4o = 0.00698弧度 Dp,110 = (0.9×0.154 nm)/0.00698 ×cos25.1o = 22.0 nm; 8.1, 8.2, 8.4, 8.6, 8.14, 8.1