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第11章静电场中的导体和电介质2_电介质选编
除导体外,凡是在电场中能与电场发生相互作用的物质,都可称为电介质。
主要特征:
电介质分子中的正负电荷束缚得很紧,介质内部几乎没有自由电荷。理想的电介质是很好的绝缘体。
11.2 静电场中的电介质
电介质受外电场的作用出现束缚(极化)电荷,达到平衡时,电介质内部的场强减弱。
11.2.1 电介质的电结构
(1)真空中一对金属导体板,分别带电+q 和 -q ,
相距d。
(2)保持q 和d 不变,插入一块电介质( P49 表 )
测得两板的电压为U0 , 即板内的场强为:
E0
即场强:
测得两板的电压:
结论:由于电介质的放入,内部的电场减弱了。
r : 电介质的相对介电常数。
(11-3)
实验:
每一分子都有正电中心和负电中心,正负电荷电量相等,相当于一个电偶极子。 电介质可分为两类:
分子的正、负电荷中心重合。分子不存在固有电偶极矩
(2) 无极分子(如H2、O2、CO2等):
分子的正、负电中心不重合,分子存在固有电偶极矩
(1) 有极分子(如H2O、HCl 等):
分子电矩
(1) 无极分子的位移极化
电介质的极化: 在外电场的作用下,介质表面产生束缚(极化)电荷的现象。
11.2.2 电介质在外电场中的极化现象
无极分子在外场的作用下,正负电荷中心发生偏移而产生的极化称为位移极化。
束缚(极化)电荷:电荷被束缚在分子范围内,不能作宏观移动。也不能用传导的方法引走。
(2) 有极分子的转向极化
有极分子在外电场中发生偏转而产生的极化称为转向极化。 外场越强,排列越整齐。
极化的结果: 对各向同性的均匀的电介质(有极、无极)
内部无净电荷;
表面产生束缚电荷,外电场越强,束缚电荷越多。
从宏观看, 在外电场的作用下, 介质表面产生束缚电荷。
电介质的击穿
当外电场很强时,电介质中的正负电荷可能被拉开,变成自由电荷,则绝缘体变成了导体。这种现象称为电介质的击穿。
电介质在电容器中的作用:
(1)增大电容的值;(2)增大耐压。
由击穿强度可计算电容器的耐压,
P49 表11-1 介电质的绝缘强度(击穿强度 Em ):
电介质材料所能承受的不被击穿的最大电场强度。
如平板电容器的耐压: Um = Emd
11.3 有电介质时的静电场和高斯定理
11.3.1 有电介质时的静电场
介质内的场强:
解释 :
电介质的放入,内部的电场减弱
E E0
E = E0 – E’
11.3.2 有电介质时静电场的高斯定理 电位移矢量
介质中的束缚(极化)电荷 q ,和电场互相牵制,一般无法预知。也无法用实验测到。
在电介质中,高斯定理应为:
真空中的高斯定理:
以半径为R,电荷为 q 的孤立导体球为例:
在真空中:
在球外充满相对介电常数为r 的无限大均匀电介质。在电介质的表面会产生极化电荷q
电场:
q为自由电荷
r
q
q
得:束缚电荷
各向同性线性电介质
令 电位移 矢量:
D的高斯定理:
在静电场中,通过任意闭合曲面S 的电位移通量等于该闭合曲面所包围的自由电荷的代数和。
单位: C/m2
r
q
q
说明:
(1)介质中的高斯定理也是普遍适用的。
(3)介质中的高斯定理包含了真空中的高斯定理:
真空中:
(4)电介质中静电场的环路定理的形式不变:
E是自由电荷和束缚电荷产生的总的电场强度。
(1)利用电荷分布的对称性,根据D 的高斯定理求出电位移的分布:
(2)由电场强度与电位移的关系计算场强:
*(4)束缚电荷计算:
(3)电势与电场强度的关系:
11.3.3 有介质时静电场的高斯定理的应用
例1:自由电荷面密度为 的平行金属板之间充满相对介电常数为r 的均匀电介质,求电位移D,电场强度E和介质表面的束缚电荷面密度 ’ 为多少?
解:
由介质中的高斯定理
+
+ + + + + +
-
- - - - - -
- - - - - -
+ + + + + +
-’
+’
P52 例11-2 同轴圆柱面之间的场强和电势差。
(1) 求 D (2) 求 E (3)求 VAB
11.4 电容 电容器
11.4.1 孤立导体的电容
设半径为R 的导体球带电 q, 电势为:
则:孤立导体球的电容:
电容是导体的一个重要特性。先讨论孤立导体的电容:
导体的电荷量
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