设计一个串行累加器实验报告技术总结.docVIP

PAGE  PAGE 9 广西大学实验报告纸 _______________________________________________________________________________ 实验内容___________________________________________指导老师 【实验名称】 设计一个串行累加器 【实验目的】 学习用中规模双向移位寄存器逻辑功能集成电路的使用方法。 熟悉移位寄存器的应用——构成串行累加器和环形计数器。 【设计任务】 用移位寄存器设计一个串行累加器。要求将已分别存于四位移位寄存器和中的两个二进制数A、B按位相加，其和存于移位寄存器中。(提供器件：74LS194、74LS74、74LS183等) 【实验用仪器、仪表】 数字电路实验箱、万用表、74LS194、74LS74、74LS183等。 【设计过程】 累加器是由移位寄存器和全加器组成的一种求和电路，它的功能是将本身寄存的数和另一个输入的数相加，并存在累加器中。移位寄存器是具有移位功能的寄存器。移位的方向取决于移位控制端S的状态。本实验用的双向移位寄存器74LS194逻辑功能如表1所示,引脚排列见图1，串行累加器结构图如图2所示， 全加器的逻辑符号及管脚排列见如图3所示。 表1 74LS194逻辑功能表 序 号输出端输出功能清零控制信号串行时钟 CP并行 CR  10× ×× ××× × × ×0 0 0 0清零21× ×× ×1（0）× × × ×不变311 1× ×↑A B C DA B C D并行输入410 11 ×↑× × × ×1 右移510 10 ×↑× × × ×0 611 0× 1↑× × × × 1左移711 0× 0↑× × × × 0810 0× ××× × × ×保持 图1 74LS194引脚排列 图2 串行累加器结构框图 图3 全加器的逻辑符号及管脚排列 全加器引脚中An为加数；Bn为被加数；C1为低位进位数输入；C0为向高位进数输出；Sn为全加和输出； 开始时，被加数和加数已分别存入累加寄存器和加数寄存器。进位触发器D已被清零。在第一个脉冲到来之前，全加器各输入、输出端情况为： 在第一个脉冲到来之后，存入累加器和移位寄存器的最高位，存入进位触发器D端，且两个移位寄存器中内容都向右移动一位。全加器各输出为： 在第二个脉冲到来之后，两个移位寄存器中的内容都又向右移动一位，存入累加寄存器和移位寄存器的最高位，原先存入的存入次高位，存入进位触发器D端，全加器各输出为： ………… 设计值的状态表如表2所示： 表2 设计状态表 CP 信号A寄存器B寄存器AB  1001100111 11 12000100010 10 13100000000 10 14110000000 10 15011000000 10 11011000110 01 12101100010 10 13010100000 10 14001000000 10 15100100000 10 1 实验设计利用74LS194双向移位寄存器的右移控制端，根据74LS194双向移位寄存器和全加器以及74LS74双D触发器的原理画出串行累加器的逻辑图： 图4 串行累加器逻辑电路图 本实验选择集成电路芯片，要求使用的集成电路芯片种类尽可能的少。本实验两个移位寄存器选用两块74LS194芯片，全加器利用一块全加器集成芯片74LS183芯片，而D触发器用一块74LS74芯片。画出实验线路图。 图5 串行累加器实验线路图 【实验步骤】 打开数字电路实验箱,观察实验箱，看本实验所用的芯片、电压接口(+5V)、接地接口的位置。 按下开关按钮，检查74LS194、74LS74、74LS183芯片是否正常。 检查74LS194芯片是否正常的方法：根据74LS194芯片(加数位移寄存器)的逻辑功能表检查74LS194芯片是否正常。将74LS19