10测量系统分析(上).pptVIP

第十章 测量系统分析（重点）;学习目标;10.1 引言;计量型数据质量：均值与真值（基准值）之差；方差大小 计数型数据质量：对产品产生错误分级的概率 有人认为，量具定期检定或校准就够了，不必进行麻烦的测量系统分析。此观点是不正确的，两者作用不相同。 1.检定或校准解决的是某量具是否合格的问题 2.测量系统分析解决的是，某测量系统能否用于判断产品合格或判断生产过程是否稳定。 MSA手册的目的是为评价测量系统的质量提供指南，主要关注的是能对零件进行重复测量的测量系统。;10.2 术语;准确度和精密度;准确度和精密度示例：;;分辨力（Discrimination）： 分辨力又称最小的可读单位，最小刻度限值。 分辨率（Resolution）：参见分辨力 测量系统探测，并如实显示被测特性微小变化的能力。 有效分辨率（Effective Resolution）： 考虑整个测量系统变差时的数据分级大小??有效分辨率。基于测量系统变差的置信区间，来确定该等级的大小。 通过把该数据大小划分为预期的过程分布范围能确定数据分级数（ndc）。对于有效分辨率，该ndc的标准（在97%置信水平）估计值为：ndc = 1.41[PV/GRR]。;基准值（Reference Value）： 被承认的一个被测体的数值，作为一致同意的，用于进行比较的基准或标准样本： 一个基于科学原理的理论值或确定值； 一个基于某国家或国际组织的指定值； 一个基于某科学或工程组织主持的合作试验工作所产生的一致同意值； 对于具体用途，采用接受的参考方法获得的一个同意值。 该值包含特定数量的定义，并为其它已知目的自然被接受，有时则是按惯例被接受。;真值、偏倚（偏移 Bias）;稳定性、线性（Linearity）：;重复性和再现性;操作者B;GRR或量具RR;测量系统的统计特性 理想的测量系统在每次使用时，只产生“正确”的测量结果，每次测量结果总应该与一个标准相一致。 一个能产生理想测量结果的测量系统，应具有零方差、零偏倚和对所测的任何产品错误分类为零概率的特性。 但是，具有这样理想统计特性的测量系统几乎不存在。 一个测量系统的质量经常用其多次测量数据的统计特性来确定。测量系统的质量，并非分辨率越高越好。 因为分辨率越高，对环境的要求越苛刻。如果表面粗糙度达不到要求，高分辨率也没有意义。;期望的统计特性应包括：;测量系统的误差：;10.3 测量过程变差及其对决策的影响;在产品控制中，如测量系统不能满足要求，其影响是导致做出错误判断，即：将合格品判为不合格品（一类错误，图1），或将不合格品判为合格品（二类错误，图2） ;Ⅰ区：坏零件总判为坏，Ⅱ区：可能做错误判断，Ⅲ区：好零件总判为好。为了正确判断，可以有两个选择： 一是改进生产过程：减少过程变差，没有零件落在Ⅱ区。二是改进测量系统：减少测量系统变差，从而减小Ⅱ区，让所有零件落在Ⅲ区，可使错误决定的风险降至最低。;对于过程控制，希望能知道：过程是否受控、过程均值是否对准目标值、过程能力是否可接受。 如果测量系统变差过大，会导致做出错误决策：一是将普通原因（偶因）判为特殊原因（异因），二是将特殊原因（异因）判为普通原因（偶因），三是过低估算过程能力指数。 前两者在SPC中已有叙述，下面看一下第三种情况： σ2obs=σ2actual + σ2msa 注：σ2obs观测过程方差，σ2actual 实际生产过程方差， σ2msa测量系统方差，而计算CPK用的是σobs，因此会过低估算过程能力指数。 图4说明了测量系统变差将使CP的观测值降低多少。;如：在采购生产设备时使用的（高等级）测量系统的GRR为10%，且实际过程Cp为2.0的情况下，在采购时观测过程Cp将为1.96。 这一过程是在生产中用生产量具研究时，如果生产量具的GRR为30%，且实际过程Cp仍是2.0，那么观测的过程Cp为1.71。;10.4 测量系统分析的基础;10.4 测量系统分析的基础;10.4 测量系统分析的基础;10.4 测量系统分析的基础;4.5 测量系统分析的准备;4.5 测量系统分析的准备;4.6 接收准则;%GRR低于过程总变差10%的变差 ——通常认为测量系统是可接受的。 %GRR是过程总变差10%到30%之间的变差 ——基于应用的重要性、测量装置的成本、维修的成本等方面的考虑，可能是可接受的。 %GRR超过了过程总变差30% —— 认为是不可接受的，应该做出各种努力来改进测量系统。此外，过程能被测量系统区分开的分级数（ndc）应该大于或等于5。（ndc = 1.41（PV/GRR）≥5）;10.5 测量系统分析的实践（重点）;⑸ 计算重复性标准差σ重复性（σr）（如可能，使用独立的重复性研究的结果） σ重复性 = ma