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- 2017-04-27 发布于湖北
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第五章 硅外延生长;5.1外延生长的概述;分类;分类;外延生长的特点;外延层应满足的要求:;5.2 硅的气相外延;设备;工艺过程及动力学模型;工艺生长过程:;;动力学模型(格罗夫简单动力学模型、埃威斯登停滞层模型 );在稳定条件下,F= F1 = F2
(5-8)
当hG ? Ks , CS →0
化学反应所需的反应物数量大于主气流输运到衬底表面的数量,生长速率受质量输运的速率的控制
当hG ? Ks , CS → CG
主气流输运到衬底表面的反应物数量多于在该温度下表面,化学反应所需的反应物数量,生长速率受表面化学反应的速率的控制;生长速率;反应的温度对生长速率的影响(图5-4);气流速度对生长速率的影响;边界层及特性;停滞层模型(图5-9);讨论
反应物的分压对生长速率的影响
G与分压p0成正比, p0 ↑ G ↑
反应物的流速对生??速率的影响
δ∝ υ0-1/2 υ0 ↑ δ↓ G ↑,与图5-5 相符
生长速率与沿基座的距离x有关
x ↑ G ↓ 引起衬底淀积不均匀
;为了使基座上所有的衬底都能均匀淀积,埃威斯登提出将基座倾斜一个小的角度。(图5-1
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