X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer，簡稱XRD)：.docVIP

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2017-05-06 发布于天津
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X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer，簡稱XRD)：.doc

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高分子特性概量高分子晶度的方法班化一甲姓名范家射射分析年德物理家琴光後因它具有穿透物的能力可使底片感光人便利用光照相察骨折情或有金裂之分析直到二十世初期光晶的展透光的射可以一步接地原子的尺度左右探知物部的微正如同微察物微世界一在加上配合一些光射晶在物物理化生物及材料科等方面研究或分析用皆日重要成不可或缺之工具的射象和布拉格定律被一晶的境散射散射的光即生干涉建性或破性都有因散射中心之的距射波短相近即射原子之的隔必射的波大相同散射中心的空分必有高度性布拉格定律道光之光程差波之整倍建性之干涉即可到一射

高分子特性概論測量高分子結晶度的方法班級：碩化一甲學號：M9940109 姓名：范家誠 X射線繞射分析儀(X-Ray Diffractometer，簡稱XRD)1985年德國物理學家倫琴(Wilhelhm Roentgen)發現X光後，因為它具有穿透物質的能力，並可使底片感光，人們便利用X光照相術來觀察骨折情況或有關金屬裂縫之分析。直到二十世紀初期，X光晶學的發展，透過X光的繞射可以進一步間接地從原子的尺度(約為10-8cm左右)來探知物質內部的微結構，正如同顯微鏡觀察物質微觀世界一樣，在加上配合一些記錄X光繞射結晶學在礦物學、物理學、化學、生物學及材料科