洁净室尘土来源分析以和究极除尘手法介绍01.pptVIP

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  • 2017-05-04 发布于北京
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洁净室尘土来源分析以和究极除尘手法介绍01.ppt

洁净室尘土来源分析以和究极除尘手法介绍01

第一章:Wafer制程的概要 ☆1.1 Wafer制程的基本工程 ☆1.2 photo工程 ☆1.3 蚀刻工程 ☆1.4 膜形成工程 ☆1.5 不纯物导入工程 ☆1.6 清洁工程;  Wafer制程,是在高纯度的silicon wafer的上面,累加薄膜的电路元素和配线,制成memorylogic等复杂构造的半导体结构。;  Wafer制程,是以photo工程为中心,以及膜形成、不纯物导入、清洁和蚀刻工程反复操作来制成半导体结构。在每个工程中,由于dust而引起的pattern不良的结构不同,让我们按顺序来看吧!;Photo工程,简单地说就是制作光刻图案的工程。由光刻胶涂布、曝光、显像工序来形成光刻图案。;  首先,是在silicon wafer的上面涂布一层称为photo regist 的感光性高分子膜。然后利用和照片同样的方法透过光罩来进行曝光。;显像后,就形成了电路光刻图案。;  曝光的时候,如果在wafer上面有dust的话,那么光线被遮挡,就不能形成正确的图案。;  如果光罩上面有dust的话,那么事态就更加严重了。因为光罩的电路图案在wafer上面一边移动一边将dust的图案也copy到了每一个chip上面。;;  以regist图案为基准,除去底衬薄膜的不需要的部分。然后,再将上面的regist除去,在wafer上面形成电路图案。;  此时,如

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