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刷新源 自推动极限 关键字： 死区时间 波形捕获率 专用集成电路 罗德与施瓦茨中国有限公司 一 ，死区时间是什么？ 最早发明的数字示波器，应该基于几个考虑： 能不能用数字技术把带宽做 高，因为模拟示波器的发展碰到很多瓶颈，能不能知道触发之前发生了什么， 或者把触发前后的波形情况记录下来，最好能回放，能不能对波形进行一些处 理，比如时域变频域，能不能对记录的波形进行离线测试。这些问题，对于模 拟示波器来讲，几乎是不可完成的任务，一切的客户需求，象是为数字示波器 的诞生带来无限可能，而且半导体技术和 DSP 技术的发展，给数字示波器的技 术带来了突破。 数字示波器能把信号随心所欲的存下来，但是处理起来无论如何是需要 花时间的啊，尤其在需要做完测试测量把结果显示出来，需要花费大量的时 间，这个时候，就带来了另外一个问题，波形更新速率的问题，无论你的处理 速度多快，总是需要处理时间的，所以，早期的总线技术和软件处理技术确实 差强人意，一段时间，很多客户恨不得左右一台模拟示波器，右手一台数字示 波器，需要快速刷新，就用模拟的，需要存储和处理，就用数字的。 数字示波器的特点： 模拟示波器的用户习惯于在屏幕上查看几乎所有的信号详细信息。屏幕上的 荧光具有余辉显示效果，可 用于快速检测信号故障。虽然模拟示波器只需要重 新设定下一个电子束扫描的横向系统 （也称为回扫），然而数字示波器却将捕 获周期的大多数时间花在对波形样点进行后处理上，在此处理时间内，数字示 波器处于死区状态，并且无法监测测量信号。因此，数字示波器只可能实现测 量信号的快照式分析。尽管许多数字示波器的用户尚不了解这一事实，即示波 器大多数时间都处于死区状态，但是此特性对波形检测次数以及最终显示的信 号详细信息均有显著的影响。 以下死区时间比，或者波形捕获率的公式能很好 解释， 一个捕获周期内，应该包含两部分，有效捕获时间和死区时间 （blind Time），死区时间其实是由固定死区时间和可变死区时间组成，固定的部分是 由示波器的结构决定的，可变部分和采样的样本数大小，样本需要做的处理和 运算的复杂程度决定，比如函数分析和运算，参数测量，软件滤波等等。 有效捕获时间与死区时间之比是数字示波器的一个重要的特性。该比值可以 定义为死区时间比或者波捕获率。 两个比值的公式浅显易懂： 传统架构数字示波器的盲区时间 （死区时间）可能会让你吓一跳，比如一个 50000 个波形/秒 刷新率的示波器，99.5%的时间是盲区，R/S 达到业界最大 100 万个波形/秒刷新率的示波器，仍然有 90%的时间是盲区，对比图如下： 盲区时间：RS®RTO 和传统示波器 波形采集周期 99.5%盲区 传统结构：50 000个波形/秒 ® RS RTO：1,000,000波形/秒 有效采集时间 盲区时间 粗略估计，市场上 90%以上产品正常工作模式都在几千次以下的刷新速度。足 见这个指标的难度了。 二 ，死区时间对测试有什么影响 ？ a) 难以检测到偶发信号 死区时间对需要找出并分析偶发信号事件的调试过程的影响最大。正如前面 所讨论的，信号故障只有在捕获周期的有效捕获时间内出现时，才能将其显示 出来。对于典型的数字示波器而言，有效捕获时间远远低于 1%。因此，用户能 做的只是重复信号条件和漫长的等待,运气足够好，或者等待时间足够长，可能 有机会看看异常信号。异常信号将出现在示波器的有效捕获时间内。死区时间 越短，检测未知信号的速度就越快 b) 分析结果的置信度问题 用户通常需要在短时间内捕获大量波形以得到统计置信度高的结果，较长 的死区时间显然与用户的这种需求会产生冲突。因此，死区时间过长会对整个 测试过程都会产生直接影响。测量功能、模板测试、直方图和FFT 等分析功能 均需要额外的处理时间，因此延长了每个捕获周期的死区时间。另外，所用的 记录长度越长，相应的死区时间也会更长。最快的捕获速率能保证最大置信度 的测试结果。 三、业内通常怎么解决刷新速率低的问题呢 ？ 模拟示波器时代，由于电回扫速度快，加上余辉功能，大家对死区时间其