材料测试技术14精要.doc

《无机材料测试技术》试卷一~五综合卷 一、名词解释 相干散射系统消光EPMA 电子探针工 几何像差相位衬度像DSC 差示扫面量热法 微商热重X射线强度光电效应1．特征X射线 2．衍射线的相对强度 3．多重性因子 4．XRD 5．AES 6．静电透镜 7．焦深 9．热分析 10．DTA 衍射线的相对强度 俄歇效应 KS j F 衬度 ICTA 二、填空题 吸收限的应用主要是影响衍射线强度的因子是透射电镜制备样品主要DTA中用参比物稀释试样的目的滤波片的K吸收限衍射花样景深一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分扫描电镜的主要结构分为四大系统在陶瓷热效应热分析的主要X射线辐射探测器分为三种类型热重 滤波片的K吸收限Kα和Kβ。× 2. 满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线√ 3. 当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小×） 5. TG曲线上基本不变的部分叫基线晶面间距调节中间镜的焦距，使其物平面与物镜的平面重合，叫衍射方式操作原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小蒙脱石脱层间水后，晶格破坏，晶X射谱中，随V增大，短波极限值增大。× 凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。× 色差是由于能量非单一性引起的。 当中间镜的物平面与物镜背焦平面重合时，可看到形貌像。× 非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。 1.有λ0的X射线光子的强度最大。× 2.满足布拉格方程就能产生衍射。× 3.衍射方式操作能看到样品的形貌像。 4.电磁透镜的色差是由于透镜磁场几何上的缺陷引起的△T热偶的工作原理是由于两种金属间的接触电位差简述特征X射线产生的机理？ 试推导面心点阵晶胞的系统消光规律。（面心点阵有四个同类原子，其坐标为0001/2 1/2 0、1/2 0 1/2、0 1/2 1/2，原子散射振幅为fa）精确测定点阵常数时，在实验技术和数据处理上都应注意什么问题？ 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？ μm的高分散的材料，也同样能在温度变化过程中显示出固有的物化性能变化；（2）无论式样是否是晶体，只要在温度变化过程中有物化反应发生，就可以用此法进行研究。举例如下（1）研究无机非金属材料工业中所用原料，尤其是天然原料在加热时的变化特性，了解原料的主矿成分，进行主矿原料的定量分析；（2）研究矿化剂的效能；（3）研究固相反应机理；(4) 确定物质熔融和结晶温度（5）根据试样是热效应特点，为改进工艺，改良配方、克服产品缺陷提供重要的参考资料（6）研究与制定烧成制度与烧成曲线。 1．什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？ 试推导体心点阵晶胞的系统消光规律。（每个晶胞中有2个同类原子，其坐标为000和1/2 1/2 1/2，原子散射振幅为fa）特征X射线谱与连续谱的发射机制主要区别？透射电镜中经投影的二次复型样品怎样形貌像？该像是如何的？3、TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？ 4、有金的多晶样品（面心立方结构，a=4.07?）的电子衍射花样，量得R1、R2、R3值分别为8.8、10.3、14.3(mm)，请列表计算有效相机常数K值。 5、如何利用综合热分析曲线制定陶瓷的烧成制度？ 试推导体心点阵晶胞（原子坐标为0、0、0，1/2、1/2、1/2）的系统消光规律。 简述多晶试样X衍射定性分析的步骤。 薄膜样品在透射电镜中如何形成散射衬度像? 4．简述扫描电镜中二次电子像的成像原理。 5．绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。 1．透射电镜中塑料二级复型（经重金属投影）样品的形貌像是如何形成的? 2．简述特征X射线谱与连续谱的发射机制主要区别电子探针与扫描电镜有何异同？热重分析在无机材料中具体有哪些应用 X射线的性质:1是电磁波,具有波粒二象性 2具有很强的穿透能力,通过物质时可以被吸收使其强度衰减3沿直线传播,光学透镜、电场、磁场不能使其发生偏转 连续X射线谱:高速运动热电子动能变成电磁波辐射能.数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波具有连续的各种波长 特征X射线谱产生机理:入射电子能量等于或大于物质原子中K层电子的结合能,将K层电子激发掉,外层电子会跃迁到K层空位,因外层电子能量高,多余的能量就会以X射线的形式辐射出来,两个能级之间的能量差是固定的,所以此能量也是固定,即其波长也是固定的 X射线的强度:指垂直于X射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和. 莫赛来定律:它表明只要是同种原子,不论它所处的物理状态和化学状态如何,它发出的特征X射线均具有相同的波长 X射线与物质相互作用:其一部分被散射,一部分吸收,一