薄膜铂热电阻PT1000在热测试中的应用.pdfVIP

第23卷 第1期 仪器仪表用户 EIC Voi．23 2016年1月 INSTRUMEN1_AT10N 2016 No．1 薄膜铂热电阻PT1000在热测试中的应用 陆心宇，郭庆 (桂林电子科技大学 电子工程与 自动化学院，广西 桂林 541004) 摘 要：电子设备的热测试是在电子设备完成热分析、热设计和完成样机之后 ，对电子设备样机的实际测试 ，以检 测验证热设计与热分析的正确性。八路温度实时测量装置采用了薄膜铂热电阻PTIO00作为温度传感器，以满足热测 试的需求，文章给出了八路实时温度测量装置设计和工作原理。 关键词：热测试；薄膜铂热电阻；测量电桥；单片机 中图分类号：TH811 文献标识码：A 文章编号：1671-1041(2016)01-0073—03 Film Platinum ThermalResistancePTIO00ApplicationinThemr alTest LuXinyu，GuoQing (GuilinuniversityofelectronictechnologytechnoloyginstituteofelectronicsandautomationGuangxiGuilin，541004，China) Abstract：Thethermaltestofelectronicequipmentiscompletethermalanalysisandthermaldesigninelectronicequipment andcompletetheprototype，theprototypeofelectronicequipmentintheactual test，toverifytheeffectofthethermaldesignand thermalanalysis．Eight—wayreal—timetemperaturemeasuringdevicePT1000isadoptedasatemperaturesensor．Tomeetthe needsofthehottest，thearticlegivestheeight—waytemperaturemeasuringdevicedesignprocess． Keyw ords：hottest；thinfilmplatinumthermalresistance；measuringbridge；MCU 0 引言 比，其信号处理要复杂。热电阻法是一种简单、稳定、实 用的方法 ，但传统线绕铂丝热电阻由于体积较大 ，不适合 电子设备 的热技术包括了热分析 、热设计 、热测试 3 用于热测试。薄膜铂热电阻是一种较好的选择。 个环节。热分析是在样机设备完成之前即可完成设备内部 热测试对温度测量装置的要求是同时能进行八路温度 的理论上的温度梯度与热流分布；热设计的目的是保证电 测量；数字显示 ；测量精度 1℃，分辨率0．1cC；温度传感 子设备中的每个元器件工作在允许温度范围之内；热测试 器不影响温度测量现场热流分布；吸收热功率尽可能小并 是对电子设备样机的实际测试，以验证热设计与热分析的 且没有热功率输出；传感器体积尽可能小。 效果 [1l 。 电路板及系统级的热分析、热设计及热测试主要研究 1 薄膜铂热电阻 电路板的结构、元器件布局对元件温度的影响以及电子设