用光学传感器进行非圆磨削的过程监控.PDFVIP

C.P. Keferstein et al. / CIRP Annals ‐ Manufacturing Technology 57 (2008)   用光学传感器进行非圆磨削的过程监控  a *  a b b 作者 ：Claus P. Keferstein ，  , Daniel Honegger , Hugo Thurnherr , Bernard Gschwend  a 瑞士东部应用科技大学，布赫斯技术学院，瑞士，布赫斯，温登堡大街 4, 9471 号 b 瑞士圣加仑克林伯格公司 由瑞士圣加仑 G.Levy 提供 摘要    万能磨床越来越多的用于加工非圆零件。这意味着对过程监控和在线测量提出了新的要求。将新型的光学传感器系统集 成在万能磨床上可以实现质量控制，优化磨削过程以及减少设置及加工时间。  关键词：在线测量，光学，磨削    1． 绪论    万能磨床（CGM ）加工精度受一系列干扰因素的影响， 例如：砂轮磨损，温度浮动，路径控制偏差等。这些干扰造 成生产效率降低，工件尺寸产生偏差等问题。有多种测量监 控工具可以帮助改善磨削过程[1]。测量控制系统能用于补偿 大多数干扰引起的误差，它通过在加工过程中对砂轮的自动 测量定位来实现补偿，其测头上装有接触式探针。如今测量 控制系统得到了广泛应用和完善，是高精度加工过程中保障 高效强劲的必备装置。可以预见智能监控系统将会在磨削加 工过程中扮演越来越重要的角色[2]。大部分接触式探测器仅 仅应用在坐标测量机（CMMs ）上[3]；部分接触式探测器也 可适用于机床上。    现代化的万能磨床也常常用于非圆轮廓的高精度磨削。 图1  光学传感器在磨床砂轮架上的布置  为此，万能磨床已经实现了X 轴和C 轴的联动，例如，可用   其进行偏心加工。这种情况下由于剪切力作用在探针上，会  斜率限制 （Slope limit），例如：球面上点对点的探测误  使接触式探头失效[4]。因为非圆磨削暂时无法测量，所以目 差 （point to point probing error on sphere ）  前而言新技术的巨大潜能还不能得到充分的利用。   动态测试，例如：球面扫描误差（scanning probing error  非接触式测头不会受到剪切力的干扰。因此，它非常适 on sphere ）  用于圆形轮廓的磨削中[5]。但长时间以来，由于要求过高以   及各种外部不利因素阻碍了光学传感器应用于万能磨床上。 一系列测试之后，我们最终选择了一种彩色共焦距测距 这就是为什么要在非圆磨床上使用一种具备测量各种不同 传感器作为测头。该传感器采用多色点光源。色差的使用， 材料能力的光学测量原理。  使得每个焦点或者传感器与工件表面之间的距离都对应一   个单独的波长。  2． 机床理念及光学传感器