五大工具之——SPC培训教材要点.pptxVIP

1;课程主要内容;有一组数据;描点作图;数据有问题?;整理一下数据;找出数 据规律;相关统计知识介绍 ;母体与样本的概念;1、表示母体特征的统计量种类;样 本 统 计 量;R;统计特性值分类;统计特性值分类;统计特性值分类;二项分布（Binomial Distribution）;定义:二项分布的概率分布函数为: ;常态分布（Normal Distribution）;常态分布的图形;任何常态分配皆可转为标准常态分配 转换后的机率运算也可对应原分配 ;泊松分布（ Poisson Distribution）;统计过程控制的基本概念;品质管理核心内容;SPC：Statistical Process Control(统计过程控制）是运用统计技术分析过程中的品质特性从而控制过程变异 过程：指的是共同工作以产生输出的供方、生产者、材料、方法和环境及输出顾客之集合 统计：数量统计方法是一种科学的方法，它的理论基础是数量统计学；其用途如： - 提供表示事物特征的数据； - 比较事物间的差异 - 分析影响事物变化的因系及相互关系;SPC目的及作用;基本概念-过程控制系统;过程控制系统;组内变异与组间变异;偶然原因与异常原因;;SPC控制图原理;控制图的理论介绍 ;控制图的种类;计量值，如产品质量特性;管制图;管制图; 管制图;n; 管制图; 管制图;在实务应用上，常会遭遇到其质量特性所得到的衡量值只有一个，其原因为不能多抽或是不须多抽，例如 生产率低无法以n1进行分析 破坏性检验 ?有些如化学工业上之制程重复测量值相差不大 故再此情况下无法以样本极差或是样本标准偏差来估计制程变异，所以采用移动极差来估计制程变异 也就是以相邻的数据计算极差; 管制图(单一观测值管制图, ) ;组内样本大小固定;不合格品数管制图;可用来管制 一个检测单位(每组样本数大小固定)之总不合格点数即为c管制图 固定样本下出现不合格点之机率服从卜瓦松分配 基本假设有 平均缺点数必须远小于所有可能的缺点总数 发生缺点的机会很大然而特定位置发生不合格点的机率很小且固定 每一样本发生不合格点之机会相同 不合格点之发生为独立;c chart(缺点数管制图);u chart(单位缺点管制图);检定法则;Control Rules;Control Rules;Control Rules;Control Rules;管制图的判读准则的选用;管制图的利用;计数值与计量值管制图之选择;统计制程管制图之正确使用;USL (Upper Spec. Limit)：规格上限 LSL (Lower Spec. Limit)：规格下限 UCL (Upper Control Limit)：管制上限 CL (Center Line)：中心线 LCL (Lower Control Limit)：管制下限 OOC(Out of Control)：超出管制界线 OOS (Out of Spec.)：超出规格界线 SOOS：单点超出规格;管制界限V. S.规格界限;误解1 设置 USL LSL 在X-图上可帮助该受控制的部品满足CPK需求;误解3 虽然过程失控，但产品仍然满足客户规格;控制图在实际工作应用中常见的错误 1 在4M1E因素未加控制，工序处于不稳定状态时使用控制图 2 在工序能力不足的情况下就使用控制图 3 用规格线代替控制线，或用压缩的规格线代替控制线 4 在现场应用时，控制图只打点不作分析判断，失去控制图的报警作用 5 在现场运用时，打点不及时，工序出现异常也不能及时发现 6 当工序条件4M1E因素发生变化时，不及时调整控制界限;The End 谢 谢！