DB-86A说明书精选.doc

 STZ-8半导电型号鉴别仪简介 STZ—8型半导体导电型号鉴别仪是为了鉴别硅单晶材料的导电类型“P”和“N”的测量仪器，是采用温差效应和整流效应两种方法相结合综合性的测量导电型号仪器。测量范围广，所测硅材料的电阻率从10-4Ω-cm ∽ 108Ω---cm，仪器采用高灵敏度放大电路和判别电路，将材料上的微弱信号放大，判别出不同型号材料后，用“P”、“N”数码直接显示，仪器采用手持式探针探头，使用简单、操作方便且寿命长，仪器适合半导体材料厂、器件厂和科研部门的需要。 主要技术指标 1．测量范围：硅单晶材料电阻率 10-4Ω—cm∽103Ω—cm 温差法 10-4Ω—cm-1 Ω—cm 整流法 10-1Ω—cm∽103 Ω—cm 2．可测量材料：半导体硅棒和硅片 Φ15 -- Φ 150mm 以上 3．显示方式：P、N灯显示 4．测试探头：手持式三探针间距 5mm ，探针直径 Φ1mm 高速钢 仪器尺寸：100mm×260mm×260mm BD-86A型半导体电阻率测试仪 一．概述 BD-86A型半导体电阻率测试仪是根据四探针原理，作为普及型半导体电阻率测试仪器适合半导体器材厂、材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（薄层电阻）；也可以用作测量金属薄层电