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其它显微剖析方法
第四部分 其它显微分析方法;主要内容;1 俄歇电子能谱仪（AES）;能级跃迁，使空位层的外层电子发射出去
俄歇电子能量具有特征值
近表面性质
能量很低;俄歇电子产生的基本原理;俄歇电子的能量;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;电子能谱;实例1： IN718合金的俄歇电子像及晶界俄歇电子能谱;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;实例2
某合金钢的晶界脆断分析
;注意问题：
必须在超高真空样品室内用液氮冷却，直接打断试样，以便提供未受污染的原始晶界表面
;2 场离子显微镜（FIM）;1）场离子显微镜的结构;2.用液氮冷却至深低温，减小原子的热震动，使原子图象平稳可辨别；
3.样品作为阳极（10-40kv),容器内壁通过电镀层接地）；
4.样品上加高电压时,成像气体原???发生极化和电离,荧光屏可显示尖端表层原子的清晰图象.;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;2）场致电离和原子成像;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;成像气体离子受电场的加速而射向阴极, 与观察屏相撞时, 可激发光信号.;3）图像的解释;3 扫描隧道显微镜（STM）;1)STM与其它显微镜分辨率的比较;2)STM工作原理;隧道电流不是样品表面起伏的简单函数.它表征样品和针尖电子波函数的重叠程度.;两种工作模式:
A)恒电流
B)恒高度;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;CO在Pt(111)面上吸附后重构像
a)CO; b)CO转变为CO2
;4 X射线光电子能谱分析（XPS）;特点：
最广泛应用的表面分析方法之一；
主要用于成分和化学态的定性及定量分析。
测量原理：
用单色X射线照射样品，入射光子与样品原子相互作用，光致电离产生了光电子。这些光电子从产生处溢出表面，用能量分析器分析光电子的动能，可得X射线光电子能谱。;;Evaluation only.
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Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.;典型XPS谱
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