基于改进量子进化算法的测试优化选择.pdfVIP

学兔兔 第34卷 第4期 仪 器 仪 表 学 报 Vo1．34 No．4 2013年4月 Chinese Journal of Scientific Instrument Apr．2013 基于改进量子进化算法的测试优化选择 雷华军，秦开宇 (电子科技大学航空航天学院 成都 61 1731) 摘 要：基于相关模型的测试优化选择是复杂电子系统测试性设计中的一个重要问题。文中首先建立了测试优化选择的数学 模型，然后提出一种改进的量子进化算法对其求解。算法核心在于根据测试选择的特点设计了一种新的适应度甬数，同时改进 了基本量子进化算法的旋转角确定方法，既能防止算法限于局部极值，又能加快收敛速度。为了充分验证算法的有效性及先进 性，将其应用于大量仿真实例。结果表明，与现有测试选择算法相比，该算法在求解精度和收敛速度方面均优于已有算法，因而 适合于复杂电子系统的测试优化选择问题求解。 关键词：测试性设计；测试选择；改进的量子进化算法 中图分类号：TP301．6 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．80 Optimal test selection based on improved quantum-inspired evolutionary algorithm Lei Huajun，Qin Kaiyu (School ofAeronautics andAstronautics，University ofElectronic Science and Technology ofChina，Chengdu 611731，China) Abstract：The optimal test selection based on dependency model is an important issue in design for testability for coin— plex electronic system．This paper establishes a mathematic model for test selection and proposes an improved quantum— inspired evolutionary algorithm(IQEA)to solve the mode1．The kernel of the proposed algorithm is designing a new fit— ness function according to the characteristics of test selection．In addition，a modified approach for determining the mag— nitude of rotation angle in basic quantum—inspired evolutionary algorithm is introduced to avoid the algorithm limits to local extremum and accelerate the convergence speed．In order to fully validate the efficiency and advantage of the IQEA，the algorithm was applied to a large number of simulation examples．The results show that compared with existing test selection algorithms，the IQEA outperforms other tes