方位电阻率成像测井仪.pptVIP

 方位电阻率成像测井仪 (ARI) 前 言 ? ＡＲＩ方位电阻率成像测井仪是新一代的侧向测井仪，它围绕井眼进行定向深测量，与原来的侧向仪相比，它具有更高的纵向分辨率。 ＡＲＩ与一个双侧向阵列组合，使用12个方位电极，在保持深浅侧向读数的前提下，ＡＲＩ提供12个深探测定向的电阻率测量值，－个非常浅的辅助测量值用来校正由井眼对方位电阻率产生的影响。 井眼四周的地层被显示成一个方位电阻率成像图，这个全覆盖成像的分辨率比声波成像和微电阻率扫描成像的要低，但是对它们是很好的补充，这是因为它们对井壁以外的特征反应很灵敏，而对井壁附近的特征反应不灵敏 。 测量原理 ＡＲＩ、方位电阻率成像仪将方位电极与常规的双侧向测井仪的电极阵列有机地结合在一起，它被安装在双侧向测井仪A2电极的中间（图3）。 ? 双侧向电阻率的测量 来自A2电极的电流被用来聚焦深侧向电流，同时，A2电极还作为浅侧向电流的回路电极。安装在A2电极中的较小的方位电极阵列对深浅侧向的测量没有干扰影响。 侧向测井仪同时以两个频率工作：深侧向的工作频率为35Ｈｚ，浅侧向的工作频率为280Ｈｚ。 测量方法与常规双侧向测井相同。 方位电阻率测量 深探测的方位电阻率测量工作频率为35Ｈｚ。 与深侧向的一样，其电流从12个方位供电电极流向地面，这些电流在顶部由Ａ2电极上部发出的电流聚焦，在底部由A2电极下部发出的电流及Ａ0，Ａ1，Ａ1‘和Ａ2’发出的电流聚焦。 另外，每一个方位电极电流都被动的由其相邻方位电极发出的电流聚焦。 在每个供电电极上都安装有一个监督电极，它通过一个反馈电路控制供电电极电流，而监督电极的电位与方位阵列电极两侧的屏蔽电极A2中的环状监督电极的平均电位保持一致。 在方位供电电极前面的泥浆面是一个有效的等势面。12个方位电流（I）以及Ｍ3、M4电极与电缆外壳间的平均电位（Ｖｍ）被测量出来，利用这些数据就可以用下式计算出12个方位电阻率。 对12个方位电流求和，就可以得到一个高分辨率电阻率测量∶ＬＬｈｒ，这种技术就相当于用相同高度的单柱状电极代替方位阵列电极。 辅助方位测量 方位电阻率测量对仪器偏心和井眼不规则的反应很灵敏，为对这些影响加以校正，在方位电阻率测量的同时进行一个辅助测量，此辅助测量的工作频率为71ｋＨｚ，这一频率足够高，可以避免与35Ｈｚ的监督环路间的相互干扰。 辅助测量的12条电阻率用于对方位电阻率进行井眼和仪器偏心校正。 方位电阻率的主要应用 井眼校正 辅助测量结果可用于对方位电阻率进行仪器偏心和井眼形状及尺寸变化影响的校正，所施加的校正是辅助测量值、泥浆电阻率以及地层电阻率的函数。校正算法通过仪器模拟模型得出。 深侵入 ＬＬｈｒ曲线的探测深度与DLL相当，其纵向分辨率则与ＭＳＦＬ的纵向分辨率接近。 簿层分析 深探测高分辨率的（分辨率小于1英尺）电阻率测量可以提高层状地层的定量评价的精度。在这种地层中，电阻率成像有助于确保不会漏失潜在的油气层，并且为选择合适的测井曲线进行解释提供指南。 裂缝性地层 非均质地层 ＬＬｄ和ＬＬｈｒ的电阻率读数受方位非均质性的影响非常大。在这种情况下，方位电阻率成像能大大改善电阻率测井解释的准确度。 如果有密度测井仪器测的仪器方位信息，就可以获得更准确的结果。可以选择ＡＲＩ某一方位上的地层电阻率来计算饱和度。 地层倾角计算 利用ＡＲＩ成像可以计算地层倾角，在通常情况下，利用ＡＲＩ成像计算的倾角的精度不如地层倾角仪计算的高。但是，用ＡＲＩ成像可以很好地计算构造倾角，探测一些意料不到的构造特征（如不整合和断层）及证实所预想的构造特征。 水平井 测量井眼周围平均电阻率的测井响应（如ＬＬｄ、ＬＬｓ和感应测井曲线）都受井眼附近且与井眼平行的地层的影响，这种现象在水平井中经常出现，特别是在井沿储集层顶部钻进的时候更是如此。定量的ＡＲＩ方位成像有助于我们探测和识别这种影响，因此在解释评价过程中，我们可以从定量的方位深电阻率测量中选择最具代表性的电阻率测量结果。 井眼剖面 ARI特点与优点 * *