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电子产品质量分析与可靠性技术 摘要 随着时代的发展，电子产品技术不断发展与创新。在产品设计、产品制造中，就要对产品 质量进行分析，可靠性进行验证。本文主要论述半导体芯片，在封装测试期间的质量分析与 可靠性验证。首先，我们要对电子产品质量分析有基本概念、可靠性参数与模型、失效模式， 影响及危害性分析。其次芯片要验证什么、如何验证、哪里去验证，整理好思路，按照国际 标准进行分析验证。 1.电子产品质量分析基本概念 质量就是产品性能的测量，一个产品是否合乎SPEC 的要求，是否符合各项性能指标的问 题；产品可靠性则是对产品耐久力的测量， 产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的 问题。所以说质量解决的是现阶段的问题，可靠性解决的是一段时间以后的问题。 2. 可靠性参数与模型 .产品的寿命特性 失效率 早期失效期 使用寿命期 损耗失效期 寿命时间 . 可靠性参数与模式可分为以下五点：(1).可靠性概念与指标；(2).可靠性的重要性 (3).可靠性、维修性指标的论证和确定；(4).客户要求的可靠性指标分解；(5).可靠性 模型的分析和建立； （1）产品的可靠性定义 产品性能就是在规定的条件下，在规定的时间内、产品完成规定功能的能力。 .产品可靠性定义包括下列四要素：规定的时间，规定的环境和使用条件规定的任务和功能， 具体的可靠性指标。 对于一个具体的产品，应按上述各点分别给予具体的明确的定义。 可靠性 规定条件 规定时间 规定功能 能力 气候环境 机械环境 电应力环 电磁环境 广义（小 （温度、 境 时、 产品功能 湿度、 （振动、 （磁场、 冲击、 （电压、 电磁波 公里、次 及其性能 气压、盐 离心、碰 电流、 辐射等） 数 指标 雾等） 撞等） 电场等） 字符数等） 时间是广义的：小时、公里、次数、字符数 .可靠性的特征量 可靠度 定义：是指产品在规定的条件下，在规定的时间内、产品完成规定功能的概率。它是 时间的函数，记作R （t）,也称为可靠度函数。 当t=0 时， R （0）=1；当t=∞时， R （∞）= 0 可靠度：产品在规定的条件下，在规定的时间区间（t1, t2）内,完成规定功能的概率。记 作R （t1, t2），特别记： 可靠寿命：对特定的 R0 ，若tR0 使R(tr0)=R0,则称tR0 为与可靠度R0 相对应的可 靠寿命。 例1：某彩电工作一年的可靠度为0.94，即R （1 年）=0.94;亦即该彩电可靠度为0.94 时可靠寿命是t0.94=1 年。 例2：某通讯设备工作3 年的可靠度为0.90，即R （3 年）=0.90 t0.9=3 年 不可靠度 定义：是指产品在规定的条件下，在规定的时间内、产品不能完成规定功能的概 率。它也是时间的函数，记作F(t),也称为累积 F (t ) p(T t ) R(t ) F (t ) 1 .失效概率密度f(t) 定义：失效概率密度是累积失效概率F （t）对时间的变化率，它表示产品寿命落在包 含t 的单位时间内的概率，即t 时刻，产品在单位时间内失效的概率。 dF (t ) f (t ) F (t ) dt .瞬时失效率λ （t）, (简称失效率) 定义：是在t 时刻，尚未失效的产品，在该时刻后的单位时间内发生失效的概率。