如何正确使用LCR测试仪测量电子元件.pdfVIP

《计量与测试技术)2006年第33卷第5期 如何正确使用LCR测试仪测量电子元件 HowtoTest LCRMeter ComponentUsing Correctly 刘 新 (航天凯天科技责任有限公司，贵州遵义563317) 摘要：本文重点介绍用LCR测试仪准确测量电感、电容、电阻的连接方法及校准和使用中应注意的事项。 关键词：LCR测试仪；仪器校准；连接方法 l 引言 这种连接方法比较简单，但由于接触电阻、连接电缆 当今电子元件的设计追求高性能，而同时又致力于 的串联阻抗(r)、连接电缆以及端子之间的杂散电容 减少尺寸、功耗和成本。有效而准确的元件性能描述、设 (c。)会引起较大的误差。如果不是中等级数量的阻抗， 计、评估和制造过程中的测试，对于元件用户和生产厂家 那么测试误差就会比较大。一般用于精度要求不是很高 是至关重要的。 的测试。连接如图2。 电感、电容、电阻是电子线路中使用最为广泛的电子 H r 器件，在进行电子设计的基础上，准确地测量这些器件的 值是极其重要的。LCR测试仪是一种采用交流方式测 量电感、电容、电阻、阻抗等无源元件参数的装置。用 LCR测试仪测量元器件的参数时，其关键问题是测量误 差。它的误差来源主要有两部分，首先是LCR测试仪本 身的内部误差，其次是由不正确校准、测试件的连接方法 及不正确选择测量电路模型引起的。一般连接方法越麻 囝2 烦越能准确地测量出元器件的参数。 4．2 3端子法 2 LCR测试仪校准 对测试电缆和被测件进行屏蔽，通过抑制杂散电容， 首先对测试仪进行开路校准，开路校准主要是消除 减少对高阻抗测试的测量误差。一般用于小电容的测 测试夹具与被测件相并联的杂散导纳。其次是进行短路 量。为了将测试引线的杂散电容减至最小，测试电缆引 校准，通过一短路条(用低阻抗的金属板)将高、低电极 线的中心导体应维护尽可能短，测量接头的屏蔽与电缆 相连。短路校准主要是消除测试夹具与被测件相串联的 中心导体互联，以降低对地杂散电容的影响。 残余阻抗的影响。 4．3 4端子法 3选择测量电路模型 设置独立的电压检测电缆，以消除由于测试电缆串 对于小电容、大电感来说，电抗一般都很大。这意味 联阻抗所引起的电压降和接触电阻的影响，是一种减少 着并联电阻(R。)的影响相对于小数值串联电阻(R，)更低阻抗测试误差的方法。但需要尽量考虑由于电缆之间 加显著，所以应采用并联电路模型。相反，对于大电容、 的互感(M)所产生的影响，增加外屏蔽。外屏蔽导体起 小电感则采用串联模型。大于10K11左右用并联，小于 Ho 10KQ左右用串联。如图1。 小) 小专喜主妻子’晕二，(大)大专襄耋曩手’#二 图3 测量信号的返回路径作用， (下转第14页) 万方数据 腰 =0．()0027／‘℃ 五=嚣(墨