组成原理–实验报告1.docVIP

计算机科学与工程学院 《面向对象技术》试验报告(二) 专业班级 信息技术01 试验地点 J411 学生学号 1005110129 指导教师 张俊 学生姓名 周敏 试验时间 第10周星期5 试验项目 运算控制 试验类别 基础性（） 设计性（） 综合性（√） 其它（ ） 试验目的及要求 掌握八位运算器的数据传输格式。 验证运算功能发生器及进位控制的组合功能。 完成算术、逻辑、移位运算实验，熟悉ALU运算控制的运用。 记录数据，并分析实验结果，完成实验报告。 成 绩 评 定 表 类 别 评 分 标 准 分值 得分 合 计 上机表现 积极出勤、遵守纪律 主动完成设计任务 30分 程序与报告 程序代码规范、功能正确 报告详实完整、体现收获 70分 备注： 评阅教师：  日 期： 年 月 日 试 验 内 容 实验原理 原理图 实验中所用的运算器数据通路如图1所示。ALU运算器由CPLD描述。运算器的输出FUN经过74LS245三态门与数据总线相连，运算源寄存器A和暂存器B的数据输入端分别由2个74LS574锁存器锁存，锁存器的输入端与数据总线相连，准双向I/O输入输出端口用来给出参与运算的数据，经2片74LS245三态门与数据总线相连。 图1　运算器数据通路 图中AWR、BWR在“搭接态”由实验连接对应的二进制开关控制，“0”有效，通过【单拍】按钮产生的脉冲把总线上的数据打入，实现运算源寄存器A、暂存器B的写入操作。 2.运算器功能编码 表1 ALU运算器编码表 算术运算 逻辑运算 15 K13 K12 K11 功能 15 K13 K12 K11 功能 M S2 S1 S0 M S2 S1 S0 0 0 0 0 A+B+C 1 0 0 0 B 0 0 0 1 A—B—C 1 0 0 1 /A 0 0 1 0 RLC 1 0 1 0 A-1 0 0 1 1 RRC 1 0 1 1 A=0 0 1 0 0 A+B 1 1 0 0 A#B 0 1 0 1 A—B 1 1 0 1 AB 0 1 1 0 RL 1 1 1 0 A+1 0 1 1 1 RR 1 1 1 1 A 表2 0 1 1 0 RL 0 0 1 1 RRC 0 0 1 0 RLC 移位执行过程 循环左移 循环右移 带进位循环左移 带进位循环右移 所谓循环移位，就是指移位时数据的首尾相连进行移位，即最高（最低）位的移出位又移入数据的最低（最高）位。根据循环移位时进位位是否一起参加循环，可将循环移位分为不带进位循环和带进位循环两类。其中不带进位循环是指进位“CY”的内容不与数据部分一起循环移位，也称小循环。带进位循环是指进位 “CY”中的内容与数据部分一起循环移位，也称大循环。 ◆不带进位循环左移：各位按位左移，最高位移入最低位。 ◆不带进位循环右移：各位按位右移，最低位移入最高位。 ◆带进位循环左移：各位按位左移，最高位移入C中，C中内容移入最低位。 ◆带进位循环右：各位按位右移，最低位移入C中，C中内容移入最高位。 循环移位一般用于实现循环式控制、高低字节的互换，还可以用于实现多倍字长数据的算术移位或逻辑移位。 二、实验内容 将K23~K0置“1”，灭M23~M0控位显示灯。然后按下表要求“搭接”部件控制电路。 表3运算实验电路搭接表 连线 信号孔 接入孔 作用 有效电平 1 DRCK CLOCK 单元手动实验状态的时钟源 上升沿打入 2 X2 K10(M10) 源部件译码输入端X2 三八译码 八中选一 低电平有效 3 X1 K9(M9) 源部件译码输入端X1 4 X0 K8(M8) 源部件译码输入端X0 5 XP K7(M7) 源部件奇偶标志：0=偶寻址，1=奇寻址 6 M K15(M15) 运算控制位：0=算术运算，1=逻辑运算 7 S2 K13(M13) 运算状态位S2 8 S1 K12(M12) 运算状态位S1 9 S0 K11(M11) 运算状态位S0 10 AWR K17(M17) A运算源寄存器写使能 低电平有效 11 BWR K18(M18) B运算源暂存器写使能 低电平有效 1.按照上表所示的信号孔和接入孔连接好电路。 2.通过“I/O输入输出单元”开关向寄存器A和B置数，具体操作步骤如下： 3.在给定A=33H、B=24H的情况下，K23~K0置“1”，改变运算器的功能设置位 M S2 S1 S0（K15 K13~K11），观察运算器的输