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§1.5 干涉仪、干涉现象的应用
§1.5 干涉仪、干涉现象的应用? 一、迈克尔逊干涉仪 (A.A.Michelson 1852—1931) 图 5.1迈克耳孙干涉仪 2、原理 3、迈克尔逊干涉仪的等倾干涉条纹 (1)干涉条纹形状(无额外差) 干涉条纹为明暗相间的同心圆环,同心圆中心处的级数j最大 严格垂直, 即 时就形成等倾干涉 条纹。 (2) 相邻两亮(暗)环的角距离 厚度h,并且随条纹对干涉条纹中心的远离 上式表明相邻两亮(暗)环的角距离 正比于波长而反比于 条纹的间隔愈来愈小。 (3)条纹的个数与h变化的关系 若h增大,则干涉环向外扩展,在中心处将不断“冒出”新的圆环 若h减小,则干涉环向内收缩,在中心处将不断有圆环 “陷入”。 变化一次,在中心处“冒出”或 “陷入”一个圆环,所以反射镜M2 当h每移动 视场某点从最亮(最暗)到最亮(最暗) 与“冒出”或 “陷入”圆环数的关系为: 移动的距离 4、 与 相重合或相交位置的实验判断方法: (1)M1与M2完全垂直时 (2) M1与M2不完全垂直时,即相交位置的判断 根据M1与M/2之间距离由远及近,条纹由密变疏 ;距离由近及远,条纹由疏变密。重合时条纹消失一片照明。 采用白光照明,相交点为白色条纹,其它是彩色条纹。 二、多光束干涉 法布里——珀罗干涉仪 双光束干涉条纹的特点和在测量中的局限性 图5.2 双光束干涉实验不易测定最大值或最小值的精确位置 若采用位相差相同的多光束干涉,则干涉花样就十分狭窄,边缘清晰,而且这些锐线条纹被宽阔而相当黑暗的区域隔开。 图5.3法布里——珀罗干涉仪 1、法布里—珀罗干涉仪的组成 2、多光束干涉的强度分布公式 设: 图5.4 多光束干涉 其中 为入射光第一次 所以从后表面 射到前表面G时的振幅。 所以从后表面 相继透射出来的各光束的振幅为: 这些透射光束都是相互平行的,每相邻两光束在达到透镜的焦平面上的同一点时,彼此的光程差值都相等,其值为: 由此引起的位相差为: 若第一束透射光的初位相规定为零,则各光束的位相依次为: 故从 面透射出来的多光束在某点P的振动, 可依次用下列复数表示: 合振动为上列复数之和,且仍为复数 合振动的强度: ——叫艾里函数 ——称精细度 3、多光束干涉的强度分布图样的特点 (1)形状:明暗相间的等倾干涉同心圆环条纹 (2)对比度: (3)干涉条纹的锐度 图5.5 实线相当于反射率接近1的情况,此时透射光干涉花样由几乎全黑背景上一组很细的亮条纹组成,随着反射率的增大,透射光暗条纹的强度降低,亮条纹的宽度变窄,因此条纹的锐度和可见度增大.两条虚线曲线相当于反射率很小的情况,极大到极小的变化十分缓慢,透射光条纹的可见度很差. 5、法布里—珀罗(F-P)干涉仪的应用 (1)研究光谱的精细结构 (2)法布里—珀罗谐振腔:——挑选波长,压缩线宽。 三、干涉现象的应用 1、测量 (1)测量微小角度(利用等厚干涉。 ) 图5.6 (2)测量长度 (a) 利用等厚干涉。 (b)利用等倾测量长度—迈克耳逊干涉仪。 (3)测量长度的微小变化:利用等厚干涉来测量长度的微小变化。 图5.7 距离改变 干涉条纹将移动一条。 空气层厚度改变的数值。 2、检查光学元件的表面的质量等 (1)平面的检测 “凸背棱弯 凹向棱弯” (2)球面检测 平板平整度的检测 条纹 条纹 条纹 ? ? 3、镀膜光学元件 (1)增透膜或消反射层: 低膜(记作L) 无半波损失。 增透膜或消反射层的光学厚度满足的条件是: 高膜(记作H) 有半波损失。 理论上可以进一步证明,当低膜折射率满足 时可以实现完全消反射。 满足的条件是: (2)增反膜: 高膜情况,增反膜的光学厚度满足的条件是 低膜情况,增反膜的光学厚度满足的条件是 作业:《光学教程》 姚启均 1.12——1.16 题
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