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实验一 TTL集成逻辑门参数测试
学号：2010300784 姓名： 张腾 班级实验目的：
（1）掌握各种TTL门电路的逻辑功能。
（2）掌握验证逻辑门电路功能的方法。
（3）掌握空闲输入端的处理方法。
二、实验设备：
数字电路实验箱，74LS00，双踪示波器
三、实验原理：
门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能可分为与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。按电路的结构组成不同，可分为分立元件门电路、CMOS集成门电路、TTL集成门电路等。集成门电路通常封装在集成芯片内，一般有双列直插和表面贴装两种封装形式。实验中常用的是双列直插式。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。
四、实验内容：
1、在74LS00芯片中选一个与非门，输入端通过逻辑电路开关接高、低电平，输出端接示波器。输入不同信号组合，在表1.1中记录相应结果。
2、用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。其中A为脉冲输入，B为数字开关输入。F输出接示波器。
F=AB F=A+B F=AB
五、实验结果：
1、 表1.1
输入 输出 A B Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0
2、 F=AB=
B=1
B=0
F=A+B=
B=1
B=0
F=AB=
B=1
B=0
A
F
F
A
F
A
F
A
A
F
F
A
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