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第三次实验报告
20100820217 通信工程二班 王绪先
一、实验名称：集成门电路功能测试。
二、实验基本知识点:
逻辑值与电压值的关系。
常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。
硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。
三、实验仪器设备与元器件：
硬件电路基础实验箱、导线、万用电表
四、实验概述：
门电路的基本功能
下图所示是TTL和非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路。
五、实验内容：
基本门电路的逻辑功能测试
测试74LS08（与门）、74LS32（或门）、74LS04（非门）、74LS00（与非门）、74LS86（异或门）的功能。将被测芯片插入试验区的空插座，连接好测试电路，拨动开关，改变输入信号，观测输出输入端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验证TTL电路的逻辑功能，记录实验数据。
输入 输出Y 74LS08 74LS32 74LS04 74LS00 74LS86 A B Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V Y U/V 0 0 0 0.21 1 4.54 1 4.47 0 0.19 0 1 0 0.21 1 4.53 1 4.47 1 4.42 1 0 0 0.21 0 0.18 1 4.48 1 4.43 1 1 1 4.53 0 0.18 0 0.25 0 0.19 逻辑门的转换
利用74S00与非门组成非门，2输入与门，2输入或门电路
A、与非门组成非门电路图：
+5
1
3
A 2
实验数据记录如下表：
输入 输出 0 1 1 0
B、74LS00与非门组成2输入与门
逻辑符号图如下：
实验数据记录如下表
输入 输出 A B Y 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 1 1
C、74LS00与非门组成2输入或门
逻辑符号图如下：
实验数据记录如下表
输入 输出 A B Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 门电路的基本应用
根据半加器的逻辑表达式克制，半加器的输出的和数S是输入A、B（二进制）的“异或”，而进位数C是A、Ｂ的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和两个“与非”门组成，如下图：
在实验箱上用“异或”门（74LS86）和“与非”门按下图逻辑电路连接。输入端A、B接“逻辑电平”开关，输出端S、C接“电平显示”发光二级管。
通过点评开关改变输入A、B的路基状态位置，观测输出端的逻辑状态，列表记录。实验数据记录如下表：
实验数据
输入 输出 A B C S 0 0 0 0 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 1 0 六、实验心得：本次试验，我加深了对逻辑门电路的理解，自己基本可以独自完成对每一种逻辑门的逻辑功能的测试，对每一种门的组合运用也有了新的体会，当然还需要加强理解，加强对每种门的组合运用。
Y
B
A
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