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东华大学扫描电镜-sem-和EDS课件详解

在SEM中用能谱仪作元素分析的优点 能谱分析的基本工作方式 一、定点分析,即对样品表面选定微区作定点的全谱扫描,进行定性或半定量分析,并对其所含元素的质量分数进行定量分析; 二、线扫描分析,即电子束沿样品表面选定的直线轨迹进行所含元素质量分数的定性或半定量分析; 三、面扫描分析,即电子束在样品表面作光栅式面扫描,以特定元素的X射线的信号强度调制阴极射线管荧光屏的亮度,获得该元素质量分数分布的扫描图像。 下图给出了ZrO2(Y2O3)陶瓷析出相与基体定点成分分析结果,可见析出相(t相)Y2O3含量低,而基体(c相)Y2O3含量高,这和相图是相符合的。 ZrO2(Y2O3)陶瓷析出相与基体的定点分析(图中数字为Y2O3mol%) 下图给出BaF2晶界线扫描分析的例子,图(a)为BaF2晶界的形貌像和线扫描分析的位置,图(b)为O和Ba元素沿图(a)直线位置上的分布,可见在晶界上有O的偏聚。 BaF2晶界的线扫描分析 (a)形貌像及扫描线位置;(b)O及Ba元素在扫描线位置上的分布 下图给出ZnO-Bi2O3陶瓷试样烧结自然表面的面分布分析结果,可以看出Bi在晶界上有严重偏聚。 ZnO-Bi2O3陶瓷烧结表面的面分布成分分析 (a)形貌像;(b)Bi元素的X射线面分布像 Pd–Au纳米合

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