第七章集成电路测试技术选读.pdfVIP

第七章集成电路的测试技术 7.1 测试的重要性和基本意义 7.2 故障模型 7.3 测试向量生成 7.4 可测试性设计 2014/12/9 1 7.1 测试的重要性和基本意义 (1) 测试与设计同样重要 测试就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的 过程。是为了确保制造后的芯片功能及性能符合设计者 的要求。一般是用一定的输入数据对芯片进行功能及性 能的测试。通过测试，判断该产品是否有故障存在并判 断故障所在的位置，以便修改。  测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。  测试与验证的区别：验证是制造前，测试是制造后。  可测性设计：有利于测试的设计。 (2) 测试过程— 通常用测试设备进行测试。 (3) 在理想情况下，测试通过就可以说明产品是合格的，