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现代材料物理研究方法 第十讲 透射电子显微镜 (Transmission Electron Microscope 简称TEM) 透射电子显微镜在形貌分析上的应用  基本知识  透射电镜原理  透射电镜的结构  电子衍射原理  高分辨透射电镜  样品制备  材料应用 2 基础知识  1925年，de Broglie提出波粒二象性假说  1926年，Busch发现了不均匀的磁场可以聚焦电子束  1927年，进行了电子衍射实验  1931年，Knoll和Ruska制造了带双透镜的电子源，获得了放大12- 17倍的电子光学系统中光阑的像  1932年 ， Knoll和Ruska研制出第一台电镜 （点分辨率达到50nm ）  1936年，英国生产出第一批商用透射电镜  1939年，德国西门子公司生产商用透射电镜 （点分辨率10nm ）  1950年 ，开始生产高压电镜 （点分辨率优于0.3nm，晶格条纹分