4分振幅干涉(等厚)ok2.ppt

* 等厚干涉 当一束平行光入射到厚度不均匀的透明介质薄膜上 当 i 保持不变时，光程差仅与膜的厚度有关，凡厚度相同的地方光程差相同，从而对应同一条干涉条纹--- 等厚干涉条纹。 明纹和暗纹出现的条件为： 明纹 暗纹 如果让平行光垂直入射膜面，光程差公式简化为： 楔形薄膜(劈尖)：薄膜的两个表面是平面,其间有很小夹角。 …… 楔形薄膜干涉条纹的特征 （1）明、暗条纹处的膜厚： 一系列明暗相间的、平行于棱边的平直条纹。 （2）相邻明纹（或暗纹）所对应的薄膜厚度之差 相邻明纹（或暗纹）所对应的薄膜厚度之差相同。 hm hm+1 ?h ? 明纹 暗纹 （3）两相邻明纹（或暗纹）的间距 结论： a.条纹等间距分布 b.夹角?越小，条纹越疏；反之则密。 ? ?h 明纹 暗纹 ?h ? （4）动态变化 （5）复色光入射得彩色条纹 整体平行提升，条纹移向棱边（厚度小的方向） ? ? 楔形薄膜干涉条纹 白光入射 单色光入射 肥皂膜的等厚干涉条纹 例1 在半导体元件生产中，为了测定硅片上SiO2薄膜的厚度，将该膜的一端腐蚀成劈尖状，已知SiO2 的折射率n =1.46，用波长? =5893埃的钠光照射后，观察到劈尖上出现9条暗纹，且第9条在劈尖斜坡上端点M处，Si的折射率为3.42。试求SiO2薄膜的厚度。 Si SiO2 O M 解：由暗纹条件 h = (2m+1)? /4n ΔL= 2nh = (2m+1）? /2 (m=0,1,2…) 可知,第9条暗纹对应于m=8,代入上式得 = 1.72(?m) 所以SiO2薄膜的厚度为1.72 ?m。 半波损失？？ 例2 为了测量金属细丝的直径，把金属丝夹在两块平玻璃之间，形成劈尖，如图所示，如用单色光垂直照射 ，就得到等厚干涉条纹。测出干涉条纹的间距，就可以算出金属丝的直径。某次的测量结果为：单色光的波长? =589.3nm，金属丝与劈间顶点间的距离L=28.880mm，30条明纹间的距离为4.295mm,求金属丝的直径D？ L D 解 相邻两条明纹间的间距 其间空气层的厚度相差为?/2于是 其中?为劈尖的角度，因为? 很小，所以 代入数据得 . S 分束镜M 显微镜 o 牛顿环 装置简图 平凸透镜 平晶 牛顿环：一束单色平行光垂直照射到此装置上时，所呈现的等厚条纹是一组以接触点O为中心的同心圆环。 牛顿环 1 牛顿环实验装置及光路 2 光程差的计算 ΔL= 2h + ? /2 h A 1 2 h是半径的函数 3 牛顿环干涉条纹的特征 (1) 明暗条纹的判据 r R h 0 由几何关系可知 （R–h)2+r2=R2 h = r2/2R R2 - 2Rh + h2 + r2=R2 3 牛顿环干涉条纹的特征 r=0，m =0 中心是暗斑 …… 3 牛顿环干涉条纹的特征 (2) 相邻暗环的间距 内疏外密 3 牛顿环干涉条纹的特征 牛顿环干涉是一系列明暗相间的、内疏外密的同心圆环 白光入射的牛顿环照片 （3）动态反应 h?缩入;h?冒出 连续增加薄膜的厚度（定点提升）, 视场中条纹 h R ? ? （提升）各圆环均向中心点收缩而渐次“吞没”；（降低）各圆环渐次从中心 “吐出” （提升或降低）各点引起的光程差变化均是相同的，故任意点（r固定）处条纹的间距并不改变，即条纹疏密保持不变 3 牛顿环干涉条纹的特征 *