电镀铜的过去、现在与未来(上).pdfVIP

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电镀铜的过去、现在与未来(上).pdf

维普资讯 专家刁~论,r坛H ≯ 一 譬 鬻篡 ≤≥ 一 以减薄,但又不致影响深孔中心铜层应有的厚度 ,于 一 电镀铜的历史沿革 是各种脉冲供 电方式也进入 了镀铜的领域。 1.1焦磷酸铜 1.3水平镀铜 1985年 以前全球 电路板业之 电镀铜 ,几乎全部采 用60℃高温操作的焦磷酸铜(CopperPyrophosphate: 随后为了方便薄板的操作与深孔穿透 以及 自动化 CuP0)制程 ,是利用焦磷酸之错合剂 (Complexing 能力起见 ,板面一次铜 (全板镀铜)的操作 ,又 曾改变 Agent)做为基本配方 。当时最流行 的商业制程就是 为水平 自走方式的电镀铜。在其阴阳极距离大幅拉近 而降低 电阻下 ,可用之电流密度遂得以提高2—4倍 , MT的添加剂PY一61H。但 由于高温槽液及PH值又 而使量产能力为之大增 。此种新式密 闭水平镀铜之阳 在8.0以上,对于长时间二次铜所用到的碱性水溶油墨 极起先还沿用可溶的铜球,但为了减少量产 中频繁拆 或干膜等阻剂,都不免会造成伤害。不但对板面之线 机 ,一再补充铜球的麻烦起见,后来又改采非溶解性 路镀铜 (PatternPlating)品质不利。且槽液本身也容易 的钛网阳极。而且另在反脉冲 电源 的协助下,不但对 水解而成为反效果正磷酸(HPO),再加上阻剂难 以避 高纵横l;lr.4~径深孔的量产如虎添翼,更对2001年兴起 免被溶解所累积的有机污染等因素,导致焦磷酸铜的 的HDI雷射微盲孔 (Microvia)也极有助益。不过也 由于 管理困难 ,而被业者们视为畏途 。然而新亮相非错合 非溶阳极 已不再出现溶铜之主反应 ,而将所有能量集 剂式的低温 (15。C一20DC)硫酸铜制程,当年则因其成 中于 产“生氧气”之不 良副反应,久之难免会对添加 熟度不够也使得用户们吃足了苦头。直到1988年以后 剂与I i式DSA(商标名称为”尺寸安定式阳极”)昂贵的 硫酸铜才逐渐正式取代了先前的焦磷酸铜 ,而成为唯 非溶阳极造成伤害 ,甚至还影响到镀铜层的物理性 一 的基本配方。 质 。至于2002年新 冒出二阶深微盲孔所需的填孔镀 1.2硫酸铜与反脉冲 铜 ,已使得水平镀铜 出现了力犹未逮 的窘境。对于此 种困难 ,势必又将是另一番新的挑战。 十年 后 (1995)的 电路板开 始 采孔 径0.35mm或 14mil以下的/J\TL,在板厚不变或板厚增加下,常使得 1.4垂直 自走的挂镀铜 待镀之通孔出现4:1至10:1高纵横

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