数电实验修改1011修改.docVIP

实验三 集成门电路逻辑功能及参数测试(2学时、实物操作) 一、实验目的 熟悉数字电路实验箱及常用实验仪器； 熟悉集成门电路的工作原理和主要参数，掌握其测试方法； 掌握门电路的逻辑功能及使用方法； 二、实验预习要求 阅读本实验附录，了解数字实验箱的功能和使用方法； 复习TTL与非门各参数的意义及测试方法； 熟悉实验所用集成门电路的功能及外引管脚排列。 实验原理 1.集成门电路外引线的识别 使用集成电路前，必须认真查对识别集成电路的引脚，确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号，以免因接错而损坏器件。引脚排列的一般规律为： 圆形集成电路：识别是，面向引脚正视，从定位销顺时针方向依次为1.2.3……如图1-1（a）。圆形多用于集成运放等电路。 扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3……如图1-1。在标准形TTL集成电路中，电源端Vcc—般排列在左上端，接地端GND一般排在右下端，如74LS00为14脚芯片，14脚为Vcc，7脚为GND。若集成电路芯片引脚上的功能标号为NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。 扁平型多用于数字集成电路，双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。 图1-1 集成门电路外引线的识别 2.门电路逻辑功能 在数字电路中，所谓“门”就是一种开关， 在一定条件下，它能允许信号通过，条件不满足，信号就不能通过。门电路输入信号与输出信号之间存在一定的逻辑关系，所以门电路又称为逻辑门电路。将若干个门电路组合起来可以构成组合逻辑电路，实现设定的逻辑功能。集成门电路主要分为TTL和CMOS两大系列，典型代表有：TTL与非门、集电极开路（OC）门、三态（TS）门；CMOS与非门、或非门、三态门等。这些逻辑门电路是组成数字电路最基本的单元。表1-1列出了常用门电路的图形符号和输入输出之间的逻辑关系。 表1-1 常用逻辑门的符号及真值表 名称 与门 或门 非门 与非门 或非门 异或门 图形 符号 真值表 A B F 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 A B F 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1 A F 0 1 1 0 A B F 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 A B F 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 A B F 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 表达式 F=A·B F=A+B F=A F=A·B F=A+B F=A?B 3.门电路逻辑功能的测试方法 测试门电路的逻辑功能有两种方法： （1）静态测试法：就是给门电路输入端加固定高、低电平，用万用表、发光二极管等测输出电平。 （2）动态测试法：就是给门电路输入端加一串脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的关系。 4．门电路的逻辑变换 门电路的逻辑变换主要就是用与非门等组成其它门电路。 方法：先对其它门电路的函数式用摩根定理等公式变换成与非式，再画出相应逻辑图，然后用与非门实现之。 实验设备及器件 名 称 数 量 备 注 数字电子技术实验箱 1 万用表 1 TTL与非门74LS00 1 电阻若干 五、实验任务 TTL与非门74LS00的逻辑功能测试。 按图1-2接线，将A、B端分别接到两个开关上，并将不同输入状态下的输出结果记入表1-2中，分析测试结果是否符合与非门的逻辑功能。 图1-2 与非门逻辑功能测试接线图 表1-2 与非门逻辑功能真值表 输 入 端 输 出 端 A B 指示灯显示状态 F 0 0 0 1 1 0 1 1 TTL与非门（74LS00）参数测试 输出高电平VOH 与非门输出高电平VOL是指输出不接负载，当有一输入端或全部输入端为低电平时电路的输出电压值，测试电路如图1-3所示。 输出低电平VOL 与非门输出低电平是指所有输入端均接高电平时的输出电压值，测试电路如图1-4所示。 VCC VCC V OH空载 =（ ）V 图1-3 输出高电平VOH测试电路 图1-4输出低电平VOL测试电路 3．观察与非门的控制作用 将图1-1中与非门的输入端B接至脉冲源“CP”输出端。 当控制端A输入为“0”，将输出端的状态，记录在表1－4中。 当控制端A输入为“1”，将输出端的状态，记录在表1－4中。 表1-4 输 入 端 输