结合TRC和Golomb编码的二维测试数据压缩.pdfVIP

大 庆 石 油 学 院 学 报 第 35卷 第3期 2011年 6月 JOuRNAL OFDAQINGPETROIEUM INSTITUTE Vo1．35 No．3 Jun． 2011 结合 TRC和 Golomb编码的二维测试数据压缩 高紫俊 ，许 晶。 (1．哈尔滨理工大学 荣成学 院，山东 荣成 264300； 2．大庆 电力集团 油田热电厂，黑龙江 大庆 163314) 摘 要 ：为有效降低确定性 内建 自测试 的存储要求 ，提 出一种结合扭环计数器TRC和 Golomb编码的二维测试数据 压缩的确定性内建 自测试方案．首先利用基 于扭环计数器 TRC的测试集嵌入技术对 测试集进 行垂直压缩 ，从而减 少确 定性测试 向量 的个数 ；然后利用 Golomb编码对垂直压缩所得 TRC种子集再进行水平压缩 ，降低确定性测试 向量 的位 数．基于 ISCAS89标准电路的实验结果表明，相对 于现有算法 ，采用本方案所实现的测试 电路 ，存储 位数平均减 少 3O ， 并且测试控制逻辑电路简单 ，可重用性好． 关 键 词 ：内建 自测试 (BIST)；测试数据压缩 ；Golomb编码 ；扭环计数器 (TRC) 中图分类号 ：TP306．2 文献标识码 ：A 文章编号 ：1000—189l(2011)03—0095一O4 0 引言 随着深亚微米技术的发展 ，集成电路进入片上系统 (SoC)时代．复杂的SoC设计导致测试变得越来越 复杂．传统的基于 ATE的测试方法很难满足测试成本方面的需求．内建 自测试 (Built—inSelf-Test，BIST) 是一种极具吸引力 的解 决 SoC测试 问题 的测试方法l1]．BIST通过将测试 向量生成器 (TestPattern Generator，TPG)、测试 响应分析器 (OutputResponseAnalyzer，ORA)和测试控制 逻辑 (TestControl Logic，TCL)设计在被测 电路 (CircuitUnderTest，CUT)上 ，从而摆脱对 ATE的依赖_1]．依据测试 向量 生成方法的不同，BIST被分为伪随机 BIST和确定性 BIST．伪随机BIST通常采用伪随机测试 向量电路 ， 如线性反馈移位寄存器 (Iinear—FeedbackShift—Register，LFSR)和细胞 自动机 (CellularAutomaton，CA) 等，生成测试 向量．采用伪随机测试向量方案具有电路结构简单 、硬件开销小等优点，但也存在测试序列 长、某些故障难以测试等不足．在确定性 BIST方案 中，一般将 由ATPG生成的测试集存储在被测 电路 (CircuitunderTest，CUT)的ROM 中，测试时通过控制逻辑再加载到被测 电路上．确定性 BIST方案具 有测试时间短、故障覆盖率高等优点 ，也具有测试数据大 、测试控制逻辑复杂等缺点l3]． 周彬等 采用 “压缩～存储 一生成”方案降低测试数据，测试数据的压缩方式可分为水平压缩和垂直 压缩．水平压缩是减少测试集 中每个测试 向量的位数 的方法 ，主要包括输入精 简压缩技术和编码压缩技 术．输入精简压缩技术通过分析被测电路的各个输入端的相容性 ，并将相容的输入端合并 ，从而达到压缩 测试数据的 目的l7]，该方法的优点是压缩效率高 ；缺点是必须重新设计扫描链结构 ，进而干扰传统 的设 计流程．编码压缩技术包括统计码Ig]、FDR码_ll、Golomb码 、VIHC码[1、LFSR编码_l1等．垂直压缩 是减少测试集中测试 向量个数的方法，主要包括相容测试向量的合并技术和测试集嵌入技术．相容测试向 量的合并技术通过分析测试集中测试 向量的相容性 ，并将相容进行合并，从而达到减少测试 向量个数 的 目 的．测试集嵌入技术通常是利用重播种技术改变测试向量产生器的状态，进而将确定性的测试向量嵌入在 定制计数器或 LFSR生成的一个长序列中，如基于折叠计数器的确定性测试集的嵌入技术l3 和基于扭 环计数器 (TwistingRingCounter，TRC)的测试集嵌入技术l1 ”]． 笔者给出一种基于扭环计数器 (TRC)和Golomb编码相结合的二维测试数据压缩方案．首先 ，采用基 于TRC的测试