微电子器件 (测验).pptVIP

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  • 2017-05-27 发布于天津
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微电子器件 (测验).ppt

* 某硅突变 PN 结的 NA = 1.5×1014 cm-3,ND = 1.5×1018 cm-3,试求室温下: 1、平衡时的 pp0 、nn0 、pn0 和 np0 ; 2、外加 0.2V 正向电压时的 pn(xn) 和 np(-xp) ; 3、内建电势 Vbi 。 测验一 测验二 一、 1、写出 PN 结正向扩散电流密度 Jdn 、Jdp 的表达式。 2、当 NA ND 时,Jdn与 Jdp 中以哪种电流密度为主? 二、 某突变结的雪崩击穿临界电场为 EC = 4.4 ×105 V/cm ,雪崩击穿电压为 220V,试求发生击穿时的耗尽区宽度 xdB 。 答案 一、 1、 2、当 NA ND 时, Jdn Jdp 二、 1、某 NPN 晶体管的 ,试求该管的浮空电势。 2、试求该管当发射极开路集电结反偏时,基区中邻近发射区一侧的少子浓度 nB(0) 是该处平衡少子浓度 nB0 的多少倍。 测验三 答案 求下图共发射极 T 形等效电路中 与 并联支路的分界频率,通常可以忽略哪个元件? 测验四 *

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