电磁场理论实验讲义2014课案.docxVIP

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电磁场理论实验讲义2014课案

一、电磁波参量的研究1.实验目的(1)在学习均匀平面电磁波的基础上,观察电磁波的传播特性。(2)利用电磁波的相干原理,测定自由空间内的电磁波波长λ0。(3)熟悉微波波段的信号源、喇叭天线和频率计等仪器和元件的基本使用方法。2.实验原理与说明两束同一频率的电磁波,由于相位不同,在空间传播时会相互干涉,利用电磁波的相干原理,通过调整两束电磁波的相位关系,可以测得自由空间内电磁波波长λ0,再由频率计接收喇叭检波器表衰减器振荡器发射喇叭~图1-1波长测试原理图(1—1)(1—2)得到电磁波的主要参数β和v。我们用图1—1 来说明自由空间内电磁波波长λ0的测试原理。设入射波为(1—3)当入射波以入射角θ1向介质板斜入射时,在分界面上产生反射波Er和折射波Et。用R表示介质板的反射系数,用To、Tε分别表示由空气进入介质板和由介质板进入空气的折射系数。另外,固定板S1和可移动板S2都是金属板,其电场反射系数为-1,在一次近似的条件下,接收喇叭S3处的相干波分别是(1—3a)(1—3b)其中(1—4a)(1—4b)在S3处的相干波合成为或写成(1—5)令(1—6)又因为L0,L1,L3为定值,由上式可知,S3处的电场幅度将随L2按余弦规律变化。两束电磁波的相位差Δφ=(2m + 1)π时,S3处的电场强度为零。若可动板初始位置为L2时,S3处的电场强度为零,位移Δl后位置为,令,则即(n = 1,2,3 ……) (1—7)时,S3处的电场将为零。据以上原理可测出电磁波的波长λ0 ,并计算出相位常数β0。移动S2的位置至,使S3处有最小输出指示(理论上为零),继续移动S2,每移动λ0/2距离将出现一个最小指示,若移动至ln时出现n个最小点,则(1—8)3.实验内容 (1)了解并熟悉微波分光仪的工作特点、使用方法,特别要熟悉与掌握利用波的相干原理测试电磁波波长的方法。 (2)了解3cm固态源的使用方法和正确操作。 (3)调整仪器设备:移动综合测试仪的可动臂,使之与固定臂垂直并固定;调整喇叭天线,使其轴线与支撑臂平行;调整金属反射板,使其中垂线与支撑臂平行;调整介质板使其与发射喇叭成45°。 (4)测空间波长λ:仪器工作正常后,旋动调节丝杠移动反射板,使μA表指示最大,同时配合调节可变衰减器,使μA表指示为100,然后将可动板S2放在最近位置。移动可动板S2 ,使μA表指示最小,记下位置。继续移动可动板,记下出现最小指示的次数n及最后一个最小点的位置l n。根据位置、l n及记数n,计算λ0、β0值。用频率计测出信号源工作波长,并与电磁波的测量波长λ0进行比较。把相应测试数据填入表1-1中。表1-1 波长测试数据表 PX—16型频率计刻度值f(Mhz)微安表最小指示次数n可动板总位移自由空间波长波的相位常数4.实验报告内容与要求(1)实验目的(2)实验数据表(3)比较信号源工作波长与自由空间的波长λ0之间的差别,分析原因(4)思考题:用相干波测电磁波波长时,图1—1中的介质板放置位置若转90o,将出现什么现象?这时能否测出λ0值?为什么?5.实验仪器(1)3cm固态源1台(2)DH926A型微波分光仪一套(3)μA表一只(4)PX—16型频率计一只二、电磁波反射和折射的研究1.实验目的(1)研究电磁波在良好导体表面上的反射(2)研究电磁波在良好介质表面上的反射和折射(3)研究电磁波全反射和全折射的条件2.实验原理与说明为讨论和分析问题的简便,下面所提到的电磁波均指均匀平面电磁波。(1)电磁波在媒质分界面上的反射和折射如图2—1 所示,有一平面电磁波,以入射角θ1斜入射到媒质分界面上时,入射波、反射波和折射波的传播方向遵循反射定律和折射定律,即(2—1)(2—2)(2)全折射当发生全折射时R=0,可得(2—3)(2—4)对于一般非磁性介质,μ1≈μ2≈μ0,垂直极化入射的电磁波不可能发生全折射,除非ε2 =ε1,而此时为同一介质;只有电磁波以平行极化方式入射时,才会发生全折射现象,此时入射角称为布儒斯特角θB(2—5)可以证明,在媒质界面上发生全折射时,θB与θ2之间有如下关系(2—6)由式2—5 可知,电磁波无论由光疏媒质向光密媒质传播,或由光密媒质向光疏媒质传播,都可出现全折射。利用这一性质,取相对介电常数为εr,厚度为d的介质板(如图2—2所示),只要有θ1 =θB,电磁波将透过介质板全部进入它的另一侧。可以计算得到,此时介质板另一侧的折射角等于θ1。(3)全反射如果两媒质界面的反射系数 |R| = 1,则入射到界面上的电磁波能量将全部反射回到媒质1,没有平均能流进入媒质2,这种现象称为全反射。由折射定律得(2—7)当μ1ε1 μ2ε2,即电磁波由光密媒质射向光疏媒质,入射角θ1≥θ0时,sinθ2≥1,不存

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