X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅不确定度的评定111..docVIP

X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中 硅的测量不确定度评定 鲍希波 石毓霞 (邯钢技术中心，邯郸　056015) 摘　要：针对X-射线荧光光谱法(XRF)测定硅铁合金中Si的测量不确定度来源进行了详细的分析，对XRF法测定硅铁合金中Si的结果的测量不确定度进行了仔细的评定，最终给出了扩展不确定度。 关键词：X射线荧光光谱法；测量不确定度；硅铁合金 理化检验工作中，制约分析测试结果准确度的因素主要包括检测方法、标准物质、仪器设备、试剂、操作者水平等，多年来分析检验工作者们对这些因素的作用机理以及如何有效消除或降低影响的研究从没间断过，并获得了有益的结果。多种制约因素的客观存在使分析测试工作永远不能穷尽测量值与真值之间的差异，因此产生误差这一概念用来表达测量结果的可靠程度，误差愈大，可靠性愈低，反之亦然。随着近年来对分析结果制约因素的深入研究，误差已不能准确客观表达测量工作的受阻和制约情形，于是一个新的概念不确定度(Uncertainty)被提出来了，不确定度这一概念对于我们许多分析检验人员来说还是比较陌生的，但又是我们必须尽快熟悉的，在今后的工作中，不确定度将会越来越多的出现，而误差的概念被谈忘。ISO/IEC指南25：1990《校准与测试实验室资格的通用要求》中指出，实验室的每个证书或报告，必须含有评定标准或测试结果不确定度的说明。GB/T19001《质量管理和质量保证》中