第六讲X射线衍射方法的应用.pptVIP

清华大学化学系 表面与材料实验室 X射线衍射分析方法的应用 吴志国 兰州大学等离子体与金属材料研究所 晶体学基本知识 X射线衍射原理 X射线衍射分析方法 X射线物相分析 X射线衍射分析方法的应用 X射线衍射分析方法的应用 多晶体点阵常数的精确测定 纳米材料晶粒尺寸的测定 晶格畸变及衍射线形分析 多晶体择优取向的测定 晶体结晶度的测定 薄膜材料掠角入射物相分析 小角度散射研究超晶格结构 宏观残余内应力的测定 薄膜厚度的测量 多晶体点阵常数的精确测定 点阵常数是晶体物质的基本结构参数，它随物质的化学组成和外界条件（温度、压力等）变化 点阵常数的变化反映了晶体内部原子结合力、密度、热膨胀、固溶体类型、受力状态、缺陷类型、浓度等的变化，通过测量点阵常数的变化，可以揭示出上述问题的物理本质和变化规律 通过点阵常数的变化测定弹性应力已经发展为一种成熟的专门方法 多晶体点阵常数的精确测定 精确测定已知多晶材料点阵常数的基本步骤： 用照相法或者衍射仪法获取待测试样的粉末衍射谱； 根据衍射线的角位置计算相应晶面间距d； 标定各衍射线条的干涉指数hkl（指标化）； 由d及相应的hkl计算点阵常数（a、b、c等）； 消除误差。晶体内部各种因素引起的点阵常数的变化非常小，往往在10-4数量级，这就要求测量精度非常高； 得到精确的点阵常数值。 粉末衍射花样的指标化 粉末衍射花样的指标化 晶胞参数未知时衍射