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- 2017-05-28 发布于重庆
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TEMSEM培训
1
材料研究方法Materials Research Methods
李 君
Tel:E-mail: brook_lijun@
2
内 容
第一章 绪论 (2学时)
第二章 光学显微分析(12学时+8学时实验)
第三章 X射线衍射分析 (12学时+2学时实验)
第四章 电子显微分析(12学时+4学时实验)
第五章 热分析(4学时)
第六章 红外和激光拉曼光谱分析 (4学时)
第七章 俄歇电子能谱分析 (2学时)
第八章 X射线光电子能谱分析(2学时)
3
第四章 电子显微分析
电子光学基础
透射电子显微分析
扫描电子显微分析
X射线显微分析
4
透射电子显微分析
透射电子显微镜的基本结构
透射电镜的样品要求
非晶态样品和晶态样品形貌像的形成与质厚衬度
入射电子产生的散射和衍射现象与阿贝成像原理
薄晶体样品的电子衍射几何和衍射花样
衍射衬度与衍衬像:明场像和暗场像
高分辨透射电镜与高分辨图像:晶格像、结构像和原子像
透射电子显微分析在材料研究中的应用
5
高分辨透射电镜与高分辨图像:晶格像、结构像和原子像
相位衬度和高分辨率像
薄晶体成像除了根据衍衬原理形成的衍衬像外,还有根据相位衬度原理形成的高分辨率像,它的研究对象是1nm以下的细节。高分辨率像有晶格条纹像和结构像,如下图所示。
6
相位衬度:
观察1nm以下的细节,所用
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