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  • 2017-05-28 发布于重庆
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TEMSEM培训

1 材料研究方法 Materials Research Methods 李 君 Tel:E-mail: brook_lijun@ 2 内 容 第一章 绪论 (2学时) 第二章 光学显微分析(12学时+8学时实验) 第三章 X射线衍射分析 (12学时+2学时实验) 第四章 电子显微分析(12学时+4学时实验) 第五章 热分析(4学时) 第六章 红外和激光拉曼光谱分析 (4学时) 第七章 俄歇电子能谱分析 (2学时) 第八章 X射线光电子能谱分析(2学时) 3 第四章 电子显微分析 电子光学基础 透射电子显微分析 扫描电子显微分析 X射线显微分析 4 透射电子显微分析 透射电子显微镜的基本结构 透射电镜的样品要求 非晶态样品和晶态样品形貌像的形成与质厚衬度 入射电子产生的散射和衍射现象与阿贝成像原理 薄晶体样品的电子衍射几何和衍射花样 衍射衬度与衍衬像:明场像和暗场像 高分辨透射电镜与高分辨图像:晶格像、结构像和原子像 透射电子显微分析在材料研究中的应用 5 高分辨透射电镜与高分辨图像:晶格像、结构像和原子像 相位衬度和高分辨率像 薄晶体成像除了根据衍衬原理形成的衍衬像外,还有根据相位衬度原理形成的高分辨率像,它的研究对象是1nm以下的细节。高分辨率像有晶格条纹像和结构像,如下图所示。 6 相位衬度: 观察1nm以下的细节,所用

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